本标准规定了可调高度测微仪及其垫高块的性能 可调高度测微仪的测量范围为600mm 分度值不应大于2μm，垫高块的高度为600mm. 本标准适用于新制的和使用中的可调高度测微仪。

ICs 17. 040. 30
中华人民共和国国家标准
GB/T 20427-2006/ISO 7863:1984可调高度测微仪及其垫高块
Ieight setting micrometers and riser blocks(IS0 7863:1984,IDT)
070117000030
2006-07-05发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2006-12-01实施
华人民共和
国家标
可调高度测微仪及其垫高块
CB/T 20427-2006/IS0 7863: -084*
中国标准出版社出版发行
北京复兴门外三里河北街160
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GB/T 20427—2006/ISO 7863: 1984本标准等同采用IS0)7863：1984可调高度测微仪及其垫高块》（英文版）为便于使用，本标谁作了下列编辑性修收：删除了国际标准前言；
—小数点“”代替作为小数点的逗号“，”，删除我国己有定义的4个术语；
用我国标准代替对应的国际标准；增加资料性引用标雅的塞考文献本标准的附录A和附录B均为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132)归口。本标准山成都上具研究所负责起草。本标准主要起草人:姜志刚。
1范围
GB/T20427—2006/ISO7863:1984可调高度测微仪及其垫高块
本标准规定了可调高度测微仪及其垫高块的性能，可调高度测微仪的测量范围为600mm，分度值不应大于2um，垫高块的高度为600mm。本标准适用于新制的和使用中的可调高度测微仪（以下简称“测微仪”)。注1：测微仪与垫高块配合使用，测微仪的测量范围最大可增至1200mm。注2：数字显示方式的测微仪可参照执行。注3：测微仪精度及垫高块的检测方法参见附录A和附录B。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T17163-
GB/T17851
GB/T20428
3术语和定义
几何量测量器具术语基本术语
基准和基准系统（eqvISO5459：1981）形状和位置公差
岩石平板（ISO8512-2：1990.MOD）006
GB/T17163—1997中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1
可调高度测微仪heightsettingmicromete是一种测量仪器壳体内具有一个能够随测微螺杆在铅垂方向上移动的立柱，立柱上有一组问距相等的测量标准块，测量标准块可提供共面的上，下测量面或相间的上、下测量面。如图1所示。3.2
基准面datumplane
一种模拟基准（见GB/T17851
2006)。
4可调高度测微仪的技术要求
4.1壳体和立柱
1999）。例如，本标准是通过0级平板来体现（见GB/T20428制作壳体和立柱材料的线膨胀系数应为（11士1)X10-6K-1并对其进行适当的热处理，以稳定其长度。
测量立柱各部件的稳定处理工艺应确保由材料残余不稳定性引起的各部件长度变化率不应大于±(0.05+0.001L)μm/年
式中：
为部件的公称长度，单位为毫米。立柱应能在壳体内自由移动，无卡滞现象。1
GB/T20427--2006/IS07863:1984微分简（鼓轮）
标尺标记一
测微套倚
测微螺杆
下测画面
上、测量面共面型
上、下测量面相间型
测量标准块
立柱-
nill uim b ml mmfral
测微头
探尺标记
测理标准块
上疆量面
上涮母面
下豆面
燕崔面
一支承脚
图1可调高度测微仪各部分名称
4.2测量标准块
测量标准块应山坚硬、耐磨的材料制成、例如：硬度不低于700HV的钢或具有耐磨镀层的钢等测量标准块应其有便于上、下测屁的测最面。4.3支承脚
支承脚应由坚硬、耐磨的材料制成，例如：硬度不低于700HV的钢或硬质合金等。4.4测微头
4.4.1测微螺杆
测微螺杆的螺距宾为0.5mm或1mm，且与螺母应有良好的配合。测微螺杆与螺母花量程范围内应全部啮合，
测微螺杆应由硬度不低于670HV的上具钢或不低于530HV的不锈钢等材料制成。当装有测微螺杆的紧固装置吋，其紧固结构应能有效地锁紧测微螺杆，指示值的变化不应大于0.5μm
4.4.2微分简（鼓轮）的设计
GB/T 20427—2006/ISO 7863: 1984为了减少仪器读数时的视差·测微仪的微分简应符合以下条件：a）微分简其有刻度的一端与套简的间隙不应大于0.2 mm;）在微分筒与套简重聋的部分，套简到微分筒读数端的归离（见图2中的距离D)不应大于0.5mme
微分（整轮）
测微森衡
图2距离
4.4.3标尺标记（刻线）
所有标尺标记应清晰，宽度均匀。标尺标记宽度不应大于标尺间距的五分之一，标尺间距不应小于0.8mm，标尺标记宽度的最大允许偏差为0.03mm。4.5垫高块的定位
测缴仪应具有一能保证在与其组合的垫高块上定位推确可靠的装置，4.6标志
测微仪1成有下列清晰的永久性标志：a）分度值；
b）制造商名称或注册商标，
c）产品编。
4.7尺寸要求和性能
4.7.1支承脚
各支承缺的半面度公差为 i μm。支戚脚的共面性啦使每一支承脚的支承面积不小于其面积的50%，4.7.2测量面
4.7.2.1平面度
各测量面的平而度公差为0,3μI14.7.2.2平行度
各测量面相对于基准面的平行度公差为1“m，相邻测量面间的平行度公差互为0.5um。4.7.3测撇头
山测微螺杆带动的测量立柱的位移量与标尺读数值的最大差值不应大于：..-对总位移量而告，1.5m：
一微分简转动--周.0.um。
4.7.4重复性
测微仪读数值的重复性为0.5m，4. 7. 5立柱
把放在基准面工的测微仪精确调到相应的公称值上，然后在测量面中心进行测量，此时，各上，下测量面在基准平面上的实际高度与其公称值的误差：一小丁或等于300 mm的任--高度不应大于2 μm,一大于300I的高度不应大于3m。当测微仪具有调零装置时，务「：、下测量面相对于晟低测最标准块上表面或下表面（如果适当的话）的高度与其公称值应朴符.其误差；3
GB/T20427—2006/ISO7863:1984小于或等于300mm的任一高度不应大于2um；一大于300mm的高度不应大于3μm。4.7.6示值误差
把测微仪精确地调整到零位，旋转测微头的任一位置上，各上、下测量面相对于基准面的公称高度应与相应于那个高度的已知值相符，其误差：一小于或等于300mm的任一高度不应大于3μm；一大于300mm的高度不应大于4μm。5垫高块的技术要求
本要求适用于与测微仪起使用的、公称高度为150mm、250mm300mm和600mm的垫高块。垫高块应有一能保证使与其组合的测微仪定位准确可靠的装置典型的垫高块见图3所示
C定他装置
基准面
支承脚
图3典型垫高块
5.1支承脚
各支承脚的平面度公差不应大于1um。支承脚的共面性应使每·支承脚的支承面积不小于其面积的50%。5.2上支承块
L支承块应采用4.3中规定的材料制成，支承块的共面平面度公差不应大于1um。5.3高度
安放在基准面上时：
a）垫高块平均高度与其公称高度值的允许偏差不应大于表1中所规定值b）高度差不应超出表1中所规定值。4
公称高度/mm
5.4标志
高度差/mm
各垫高块上都应有下列清晰的水久性标志：a）公称高度；
制造商名称或注册商标：
产品编号。
GB/T 20427—2006/1S0 7863:1984平均高度与其公称高度值的允许偏差/μm=1. 5
GB/T20427—2006/IS0 7863:1984A.1概述
附录A
（资料性附录）
可调高度测微仪的检测方法
本附录给出的例子适合于检测可调高度测微仪的出要性能。该检测方案可以作通常实验室系件下，使用通常适合于该环境条件的检测工具进行。也可以选用其他方法只要能保证其精度至少与上述要求的精度相等。
A.2测微头的检测
检测测微头误差的步骤如下
）把要检测的可调高度测微仪间--台灵敏的指示装置一-起安放在基准面上，指示装置的最小放大倍数为2000，其传能器装在刚性的比较仪台架1b）用可调高度测微仪测量一组0级或更高缴的量块（见GB/T6093·20C=），使测微螺杆通过整个测量范围，读出的读数值与各量块之间的差值·来确定测微头的误差。注1：下面是推荐的母块组尺寸：2.5;5;7.5;10;…-;22,5;25 m1;以确定总位释的误萃。注2：为「测定测微头的微分筒转动一周的误差,选用一组壁块,在微分微转动-周的范围内，等间距地测高不少于4点的读数值，这些读数值应在测量范围的中点近以纳取考，4.3立柱的检
在垂直于基谁面的方而上测定立柱各测量表面的间距,所采用方法的测量不确定度不应大于4.7.5中给出值的五分之·—。
A.4示值误差的检测
检测的方法与A3所述类似,但只使用有限的儿组块，尺小应包括高度测微仪的量程及测微螺杆的测量范围。
例如：对」量程为300)1m的可调危度测微仪，推择用下列尺止的量块组：26.tmm;loo.3mm和289.7inm
B. 1 高度的检测
检测垫高块高度可按下列步骤进行：附录B
（资料性附录）
垫高块的检剥方法
GB/T20427—2006/IS07863：1984把要检测的垫高块同一台灵敏的指示装置起安放在其准面1，指示装置的最小放人倍数为a
2000，其传感器装在刚性的比较仪台架上。b?
按垫高块公称高度组成一组量软，指示装置依次与垫高块的每一个上支承快接触，再依次与相应尺寸的最块组接触。
GB/T 20427—2006/IS0 7863:1984参考文献
几何量技术规范（GPS)长度标推量块（eqIS3650：1998）[1]
GB/T 6093
Standard reference temperature fur industrial lergth neasurerenis.IS0 1:2002
1IS0 8512-1:1990
Surface plates Part l:Castiron surface plates.[3]
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