首页 > 国家标准(GB) > 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
GB 3441-1982

基本信息

标准号: GB 3441-1982

中文名称:半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:已作废

实施日期:1983-10-01

下载格式:pdf zip

相关标签: 半导体 集成电路 电路 测试方法 基本原理

标准分类号

中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

关联标准

替代情况:调整为SJ/T 10737-1996

采标情况:IEC 147-2 NEQ

出版信息

页数:15页

标准价格:17.0

相关单位信息

标准简介

标准图片预览






标准内容

UDC621.382.049.75-181.4:621.317.08GB
中华人民共和国国家标准
GB3441-82
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofECLcircuits for semiconductorintegratedcircuits
1982-12-31发布
国家标准局批准
1983-10-01实
总的要求
静态参数测试
2.1输出高电平电压VoH
输出高电平阀值电压Von
输出低电平电压Vot
输出低电半阈值电压VoL
输人高电平电流IH
输入低电半电流\
电源电流IEE\.
动态参数测试
附录A
建立时间 set
保持时间tH
输出由低电平到高电平传输延时间tP.输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL00c8006660oo6c6
上升时间t,
下降时间t,
最高时钟频率f.
图形符号
(1)
(3)
·(3)
(4)
(5)
(5)
(6)
(6)
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路ECL电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofECLcircuitsforsemiconductorintegratedcircuits
.049.75-181.4
621.317.08
GB3441—82
本标准规定了半导体集成电路ECL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本原本标准是参考国际电1委员会(IEC)147一2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制的。
尤特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的±1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测试。
测试期问,被测器件应避免出现自激现象。2静态参数测试
输出高电电压VoH
2.1.1定义
输人端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.1.2测试原理图
输出高电平电压VoH的测试原理图如图1所示。国家标准局1982-12-31发布
1983-1001实施
2.1.3测试条件
输人网络
GB 344182
被离游件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压VEE;
输人端施加的电平;
输出负载。
测试程序
输出负威网络
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输人端施加器件详细规范规定的电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路。在被测输出端测得输出高电半电压VoH。按本标准第2.1.4.3项至2.1.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.2输出高电平阀值电压VoHT
2.2.1定义
输人端在施加规定的阅值电平下,使输出端为逻辑高电平H时的國值电压。2.2.2测试原理图
输出高电平阐值电压VoHT的测试原理图如图2所示。Vee
输人网络
2.2.3测试条件
被测数件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA3
输出负载网路
电源电压VEE:
输人端施加的阈值电平;
d.输出负载。
GB3441—82
2.2.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T。下,将被测器件接人测试系统中。2.2.4.1
电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输人端施加器件详细规范规定的阔值电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路。在被测输出端测得输出高电平阀值电压VoHT。按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.3输出低电平电压VoL
2.3.1定义
输人端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.3.2测试原理图
输出低电平电压VoL的测试原理图如图3所示。hic
输人网络
2.3.3测试条件
破测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度T4
电源电压VEE:
输人端施加的电平;
输出负载。
测试程序
输出负载网络
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接人测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输入端施加器件详细规范规定的电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路。在被测输出端测得输出低电平电压VoL。按本标准第2.3.4.3项至2.3.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.4输出低电平阐值电压VoLT
2.4.1定义
输入端在施加规定的阈值电平下,使输出端为逻辑低电平L时的阅值电压。2.4.2测试原理图
输出低电平阈值电压VoLT的测试原理图如图4所示。3
2.4.3测试条件
输人网络
GB3441—82
被溯器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压VEE:
输人端施加的阈值电平;
输出负载。
测试程序
输出贷载网络
在器件详细规范规定的环境温度T,下,将被测器件接人测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输人端施加器件详细规范规定的阅值电平。被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路、在被测输出端测得输出低电平阀值电压VoLT。按本标准第2.4.4.3项至2.4.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.5输入高电平电流IIH
2.5.1定义
输人端在施加规定的高电平电压Vi时流人器件的电流。2.5.2测试原理图
输人高电平电流IH的测试原理图如图5所示。Im
2.5.3测试条件
输人网络
被薄春件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA;
电源电压VEEs
输入高电平电压VH
输入端施加的电平。
GB 344182
测试程序
2.5.4.1在器件详细规范规定的环境温度T。下,将被测器件接人测试系统中。2.5.4.2
电源电压VE调到器件详细规范规定的电压值。被测输人端输人高电平电压VH调到器件详细规范规定的电压值;其余输入端施加器件详细规范规定的电半。
输出端开路。
在被测输入端测得输入高电平电流IH。2.5.4.6按本标准第2.5.4.3项至2.5.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.6输人低电半电流111
2.6.1定义
输人端在施加规定的低电平电时流人器件的电流。2.6.2测试原理图
输人低电平电流|的测试原理图如图6所示。Vec
人鼠络
2.6.3测试条件
被器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压VEE:
输人低电平电压VIL:
输人端施加的电平。
2.6.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统1。2.6.4.1
电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。被测输入端输人低电半电压V调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.6.4.4输出端开路。
在被测输人端测得输人低电平电流IL。按本标准第2.6.4.3项至2.6.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.7电源电流EE
2.7.1定义
GB3441—82
输人端在施加规定的电平下,经电源端流出器件的电流。2.7.2
测试原理图
电源电流|比的测试原理图如图7所示。We
输人网练
2.7.3测试条件
被测游件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度T4;
电源电压VE:
c.输入端施加的电平。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T下,将被测器件接入测试系统中。电源电压VEE调到器件详细规范规定的电压值。输入端施加器件详细规范规定的电平。输出端开路。
在电源端测得电源电流IEE。
3动态参数测试
3.1建时间set
3.1.1定义
时序逻辑器件,
数据输入脉冲电压应比触发输人脉冲电压提前施加于器件的时间。3.1.2测试原理图
建时间tset的测试原理图如图8所示。6
输入器动网络
建时间ts的波形图如图9所示。
GB3441—82
输入孵动网络
双迹示波器
触发输人脉冲
数据输人脉冲
3.1.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
电源电压V.c、VEE;
输人端施加的电平;
模丽器
信号检测仅
输人脉冲电压的幅度VH、VL、频率f、宽度te、上升时间t,、下降时间t,;输出负载;
参考电VREF。
3.1.4测试程度
在器件详细规范规定的环境温度T。下,将被测器件接人测试系统中。电源电压VcC、VEE调到器件详细规范规定的电压值。3.1.4.2
输出负嵌网络
3.1.4.3被测数据输人端和触发输人端施加器件详细规范规定的脉冲电压;其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
3.1.4.4输出端施加器件详细规范规定的输出负载。3.1.4.5调节被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输人端施加的脉冲电压超前的时间,使输出逻辑电按器件详细规范的规定临界转换前,该时间即为建时间tse!。3.1.4.6按本标准第3.1.4.3项至3.1.4.5项规定,分别测试有关输人、输出端。3.2保持时间tH
3.2.1定义
时序逻辑器件,数据输入脉冲电压在触发输人脉冲电压过后应保持的时间。3.2.2测试原理图
GB3441-82
保持时间t的测试原理图如图10所示。输人驱动网络免费下载标准就来唯久标准网
输入累动网络
双迹示波器
保持时间t的波形图如图11所示。触发输人殊冲
数抵输人脉冲
3.2.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA;
电源电压VcC、VEE
输人端施加的电平;
破测器件
信号检测仪
输人脉冲电压的幅度VH、VL、频率了、宽度、上升时间t,、下降时间t,;输出负载;
参考电平VREF。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T,下,将被测器件接入测试系统中。电源电压VcC、VEE调到器件详细规范规定的电压值。编出负练网络
被测数据输人端和触发输人端施加器件详细规范规定的脉冲电压,其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
输出端施加器件详细规范规定的输出负载。调节被测数据输入端施加的脉冲电压比触发输人端施加的脉冲电压滞后的时间,使输出逻辑电平按器件详细规范的规定临界转换前。该时间即为保持时间tH。3.2.4.6
按本标准第3.2.4.3项至3.2.4.5项规定,分别测试有关输人、输出端。8
GB3441-82
3.3输出由低电平到高电平传输延迟时间tpLH3.3.1定义
输人端在施加规定的电平和脉冲电压时,输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上两规定的参考电平间的时间。3.3.2测试原理图
输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH的测试原理图如图12所示。电
输人驱动网络
输出负被网络
双示波器
输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH的波形图如图13所示。输入脉冲
间相输出脉冲
反相输出脉冲
3.3.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA:
电源电压VcC、VEE:
输人端施加的电平;
输人脉冲电压的幅度VH、V额率f、宽度t、上升时间t,、下降时间;输出负载;
参考电VREF。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T,下,将被测器件接人测试系统中1。电源电压VCC、VEE调到器件详细规范规定的电压值。9
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。