主题内容：本标准规定了单模光纤耦合器的光学性能、测量和检验方法及标志、包装等条件。适用范围：本标准适用于单模光纤耦合器的设计、生产、检验和使用。

YD/T893-—1997
本标准参照国际IEC875-2（1992）《纤维光学分路器第二部分：分规范非波长选择分路器》；IEC875-1（1992）《纤维光学分路器第一部分：总规范》的有关章节，根据我国的具体情况进行编写。本标准由邮电部电信科学研究规划院提出并归口。本标准由邮电部武汉邮电科学研究院起草。本标准主要起草人：张秋华、吴小顺。683
1范围
中华人民共和国通信行业标准
光纤耦合器技术条件
YD/T 893
3-1997
本标准规定了单模光纤耦合器的光学性能、测量和检验方法及标志、包装等条件。本标准适用于单模光纤合器的设计、生产，检验和使用。2引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB13713—1992纤维光学分路器，第1部分：总规范；GB2421一1989电工电子产品基本环境试验规范：总则：GB2828-1987逐批检查抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）；YD/T717--1994FC型单模光纤光缆活动连接器。3术语
光纤耦合器一—一在两根光纤之间或者多根光纤之间实现光信号传输的一种器件。尾纤型合器一一全部是光纤形式引出端，没有连接器。连接器形耦合器一一在尾纤型器件每个尾纤引出端上都带有一一个连接器作引出端。端口—隶属于耦合器的光信号的入口或出口的光纤或光纤连接器。4光纤耦合器的基本描述
4.1光纤耦合器有以下几种形式：（1）1×2光纤耦合器
（2）2×2光纤耦合器
（3）NXM光纤耦合器
4.2光纤耦合器线路图和传输矩阵光纤耦合器按线路图和传输矩阵来定义。其传输矩阵的定义参见GB13713--1992中7.1。（1）1×2光纤耦合器线路图如图1所示。图11×2光纤耦合器线路图
图中光信号从1端口进，2和3端口输出，其传输矩阵如图2所示。中华人民共和国邮电部1997-02-28批准684
1997-07-01实施
YD/T 893-1997
接收端口
Ltaroo
图21×2光纤耦合器传输矩阵
矩阵中t13/t2或其倒数中的较小值定义为“分光比”。（2）2×2光纤耦合器线路图如图3所示。2
图32×2光纤耦合器线路图
图中光信号从1端或2端口进，从3和4端输出，并保持和另一人射端隔离。其传输矩阵如图4所分光比定义为t13/t14或其倒数及t23/t24或其倒数中的较小值。接收端口
图42×2光纤耦合器传输矩阵
（3）NXM光纤耦合器线路图如图5所示。N+1
图5NXM光纤耦合器线路图
注：NXM线路图不一定与耦合器的端口相对应。这种器件有N个输人端口和M个输出端口，端口组是可逆的，即如果“M”组端口之-一用作输人端口，则“N”组端口就是相对于输人光的输出端口。其传输矩阵如图6所示。接收端口
tin+1,tiN+2
tN+M.N+M+
图6NXM光纤耦合器传输矩阵
“A”区中各传输系数通常为零（相应于隔离端口），而“B\区中的传输系数名义上不为零（相应于传输端口）。
5技术要求
5.1主要光学性能
5.1.1附加损耗
YD/T 893-1997
N×M光纤耦合器是以1×2，2×2耦合器为基本单元制作的，而每个基本单元的附加提耗应≤0.3dB。对于其他多端口耦合器，视其制作方法不同，附加损耗有所区别，本标准不做具体规定。5.1.2插人损耗
光纤耦合器的插人损耗是指一个输出端光功率与输人端光功率之比。插人损耗由两部分组成：一部分是附加损耗，另一部分是分光比的因素。器件的分光比不同，插入损耗各有所异，因此，本标准不做具体规定。
5.1.3均勾性（分光比容差）
光纤耦合器的均匀性是指均勾分光的多端口耦合器，各输出端口光功率的最大变化量。均勾性按下式计算：
U=±1/2[(ay)max(a,)min了
其中：（α,）nax——最大插人损耗，dB；(ai,)min—
一最小插人损耗，dB。
5.1.4方向性
光纤耦合器的方向性是衡量器件定向传输特性的参数。按公式（2）计算：D=-10lg Pk
其中：D—一方向性,dB；
第n人射端口人射光功率；
一同端第人射端口反射光功率。其方向性有两种：
a）尾纤输入/输出型≥60dB；
b）连接器输人/输出型≥45dB。5.1.5各种试验后耦合器损耗变化量和分光比变化量不应超过表1所示的数据。表1试验后变化量
6 测量
6.1测量环境
试验项目
振动试验
冲击试验
高温试验
低温试验
高低温循环试验
插入损耗变化量，dB
耦合器的测量应在GB2421-1989中所规定的正常大气条件下进行。即：温度：15℃~35℃
湿度：45%~75%*
气压:86kPa-106kPa
6.2测量条件
分光比变化量
（1）
6.2.1 光源(S)
YD/T 893—1997
本试验所用光源应是稳定激光器光源，其稳定度要求优于0.05dB(1h）；光谱宽度：≤5nm;
温度稳定性：≤0.3dB。
6.2.2激励单元（E）
本试验所用激励单元是一段长约1km的单模光纤，其参数应符合YD/T7171994中第4章规定。
6.2.3探测单元（D）
所用光功率计具体参数：
分辨率：0.01dB
测试范围：(—80～+3)dBm
6.2.4标准连接器（SR）
这种连接器是精确制作与选择的，参数应符合YD/T717—1994中3.4.1要求。6.2.5临时接点(TJ)
本方法是用元器件或机械装置临时将两个光纤端对接成一条直线，对接点损耗要低，稳定性好。6.2.6耦合器引出端光纤L1，Lz段长度：L与L2等长，为(0.75~1)m或根据要求。6. 3附加损耗的测量
6.3.1带有尾纤端口的耦合器附加损耗的测量（剪断法）测量步骤：
选择好耦合器的两个相关端口之后；a）按照下图测量并记录功率P(il,2M)D,
图7尾纤型耦合器附加损耗测量原理图b）保证P,稳定后，在距临时接点（TJ)不少于30cm处切断耦合器的尾纤，如图8所示。c）从测量装置中取出耦合器及其所附带的尾纤，制备好光纤端面，使光纤端面与检测单元相耦合。测量并记录光功率P.如图9所示
d）由下列公式给出被测器件的附加损耗：M
α;=—10lg
其中;α;-—附加损耗,dB；
-M个输出光功率之和；
（3）
YD/T893—1997
3尾纤型耦合器附加损耗测量原理图图8
图9尾纤型耦合器附加损耗测量原理图P—一第i个端口的输人光功率。6.3.2带连接器端口的耦合器附加损耗的测量测量方法参照节6.3.1。
6.4插人损耗的测量
6.4.1带有尾纤端口的耦合器插入损耗的测量（剪断法）测量步骤：
在选择好耦合器的两个相关端口之后：a）按照图10测量和记录光功率Pij;sHe
鹅合器
图10尾纤型耦合器插入损耗测量原理b）保证稳定后，在距离临时接点(TJ)不少于30cm处切断合器尾纤，如图11所示。c）从测量装置中取出耦合器及其所附带的尾纤，制备好光纤端面，使光纤端面与检测单元相耦合测量并记录光功率Pi,如图12所示。s
耦合器
图11尾纤型耦合器插人损耗测量原理图d）由下列公式给出该通路的插入损耗：sh
图12尾纤型耦合器插入损耗测量原理图aij
其中：α:,—-插人损耗,dB;
P,—第i个端口的输人光功率；
P,一第j个端口的输出光功率。
6.4.2带有连接器端口的合器的插入损耗的测量。688
（4）
测量方法参照节6.4.1。
6.5方向性
YD/T893—1997
测量尾纤型光纤合器的方向性，方法如下：a）如图13所示测量2端口光功率Pz。s
图13尾纤型耦合器方向性测量原理b）在距临时接点（TJ）不少于30cm处切断耦合器的尾纤，制备好光纤端面测量端口1输人光功率。如图12所示。
c）按下列公式计算出光纤耦合器的方向性。a= --10lg P,
其中;a—方向性,dB;免费标准下载网－唯久标准网vv99
P,输入光功率;
P2--—2 端口输出光功率。
6.6带有连接器端口的光纤耦合器方向性的测量其测量方法应参照尾纤型耦合器方向性的测量法。7试验
（5）
试验条件应与6.1相同。试验前，试样应先在正常大气条件下作预处理，试验后亦在正常大气条件下恢复。
7.1机械性能试验
7.1.1振动试验
a）条件按GB/T2423.10—1981试验Fc；b）方法
试样放在振动台上应在X、Y、Z3个垂直方向的每一个方向上承受振动，方向之一与耦合器的公共轴线平行。
c）试验后试样应满足下面要求：无变形，无裂痕，表面光滑。
光学性能符合表1中a点。
7.1.2冲击试验
a）条件按GB/T2423.15-—1981试验Ga：b）方法：
试样放在冲击台上应在X、Y两个垂直向的每一个方向上承受冲击，每个方向冲击3次。任选一种条件作试验。
c）试验后试样应满足下面要求：无变形，无裂痕，表面光滑。
光学性能符合表1中b点。
7.2温度特性试验
7.2.1高温试验
a）条件
最高温度：+85℃
YD/T893—1997
温度变化速率：不大于1℃/min（不超过5min平均值）对试样进行在线光学性能监测。b）程序
先将试样在常温下测量插人损耗，然后把其放人精度土2℃的高低温恒温箱内，见图14，每升高5℃观察并记录一次插人损耗值，直至十85℃。尔后保持恒温2h，记录其插人损耗。恢复至常温后，记录其插人损耗值。
c）试样试验后，应满足下面要求：试验后试样无变形，损伤；
光学性能符合表1中c点。
7.2.2低温试验
a）条件与方法
最低温度：—40℃
温度变化速率：不大于1℃/min（不超过5min平均值）对试样进行在线光学性能监测。b）程序
先将试样在常温下测量插人损耗。然后把其放人精度为土2℃的高低温恒温箱内，见图14，降低温度，每降低5℃观察并记录次插人损耗值，直至一40℃。保持恒温2h，记录其插入损耗。恢复至常温后，记录其插入损耗值。
c）试样试验后，应满足下面要求：试验后试样无变形，损伤
光学性能符合表1中d点。
7.2.3高低温循环试验
a）条件与做法
温度范围：—25℃～70℃
温度变化速率：1℃/min
循环次数：3次
将试样在常温下测量其插人摄耗，然后置于精度为士2℃的高低温恒温箱内，见图14，升温直至十85℃，保持恒温30min。然后降温，至一40℃，保持30min，至此为一个循环。试样取出放在常温下2h，擦净水珠，测量并记录其插人损耗值，继续进行下次循环试验。b）试验后，试样应满足下面要求：试验后试样无变形，损伤；
光学性能符合表1中e点。
高低温试验箱
光功率计
图14温度特性实验
8检验
YD/T893—1997
光纤耦合器，由具有独立职能的质量检验部门按标准要求检验合格发给合格证后方可出厂。光纤耦合器的检验分两类，出厂检验(交收检验)和型式检验。8.1出厂检验
分日常检验和抽样检验两种。
8.1.1日常检验
该检验是生产厂家对全部产品进行的检验，其检验数据应随同产品提交给用户，光纤耦合器需要进行日常检验的项目是：外观、附加损耗、插人损耗、均勾性、方向性。8.1.2抽样检验
它是从批量生产中或不同时期产品中按一定的比例抽取完整的产品或样品进行的检验。光纤耦合器的抽样检验项目是：附加损耗、插人损耗、均匀性、方向性及高温试验、低温试验、振动试验、冲击试验。抽样数量按GB/T2828—1987规定进行。8.2型式检验
光纤耦合器有下列情况之一时，一般进行型式检验：a）新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定；b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）正常生产时，应定期进行检验；d）产品长期停产后，恢复生产时e）出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时；f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。9标志、包装
9.1标志
在每个耦合器上均应有清晰和耐久的标志，标志的顺序如下：a）器件识别号；
b）制造厂的商标；
c）制造日期（年、月）。
9.2包装
耦合器的包装上应有下列内容：a）型号命名；
b）表示评定水平的一个字母。
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