中华人民共和国国家标准
电子元器件详细规范
半导体集成电路CT1002型
TTL四2输入或非门
Detail specificationfor electronic componentSemiconductorintegrated circuit-CT1002TTLQuad2inputNORgate
（可供认证用）
UDC621.38.032
.049.774
GB7006-—86
降为SJ/T10809-96
本规范规定了半导体集成电路CT1002型TTL四2输人或非门鉴定和质量评定的全部内容。本规范是按照GB5965-86《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的，并符合GB4589—84'《半导体集成电路总规范》的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。国家标准局1986-11-18发布
1987-08-01试行
国家标准局
评定器件质量的依据：
GB4589.1--84《半导体集成电路总规范》
GB7006-86
GB7006—86
CT1002型四2输人或非门详细规范订货资料：见本规范第7章
机械说明
外形依据：GB7092—86《半
导体集成电路外形尺寸》
外形图：见本规范第10.1条
引出端排列：
标志；按GB4589—84第2.5
条和本规范第6章
2简要说明
TTL集成门电路
半导体材料：硅
封装：空封、非空封
逻辑符号、逻辑图和功能表见本规范第11章
品种：
环境温度
封装形式
陶瓷直插（D）
黑瓷直插(J)
塑料直插（P）
陶瓷扁半（W）
全密封扁半（F）
质量评定类别
0~70℃
CT1002CD
CT1002CJ
CT1002CP
CT1002CW
CT1002CF
ⅡA，ⅢB，ⅢC，ⅢD，ⅢE
按本规范鉴定合格的器件，其制造单位的有关资料，可在合格产品一览表中查到。
标准分享网vwwbzfxwcom免费下载-55~125℃
CT1002MD
CT1002MJ
CT1002MW
CT1002MF
极限值（绝对最大额定值）
GB7006-86
若无其他规定，适用于全工作温度范围。符号
条款号
工作环境温度
贮存温度
电源电压
输入电压
多发射极晶体管输人端间的电压电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件
若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电压
输出高电平电流
输出低电平电流
5.2电特性
若无其他规定，适用于全工作温度范围。3
条款号
GB7006—86
特性和条件(注)
输出高电平电压
Vcc =最小, Vi =0.8V,
loH=-400A
输出低电平电压
Vcc =最小, ViH = 2 V,
loL=16mA
输入钳位电压
Vcc=最小，lik=-12mA
输人电流
Vcc=最大，V=5.5V
输入高电平电流
Vcc=最大, ViH =2.4V
输人低电平电流
Vcc=最大,Vn =0.4V
输出短路电流
Vcc最大
输出高电平时电源电流
Vcc=最大
输出低电平时电源电流
Vcc=最大
传输延迟时间
Vcc = 5 V, Ta =25℃,
Vm=3V,f=1MHz,
tw=0.5μs，tr<7ns，
T<7ns,VREF=1.5V,
C=15pF，RL=400
注：Vcc为最小或最大按本规范第5.1.1款。M
标准分享网wwwbzfxwcom免费下载规范值
器件上标志的标法示例如图1：
引出增识别标志
GB7006-86
CT1002MJ
制造单位商标
检验批识别代码
各“检验批识别代码”、
若受器件尺寸限制时，允许将
订货资料
若无其他规定，订购器件至少需要下列资料：准确的型号；
详细规范的国家编号；
质量评定类别。
试验条件和检验要求
质量评定类别
“质量评定类别”标在器件背面。抽样要求：根据采用的质量评定类别，按GB458984第3.6.2款表6和表7的规定。A组检验的抽样要求
检查水平（IL）
GB7006--86
B组、C组和D组检验的抽样要求
标准分享网wwwwbzfxwcom免费下载GB7006--86
A组逐批
所有试验均为非破坏性的（见GB458984第3.6.6款）。条
检验或试验
A1分组
外部目检
A2分组
功能验证
A8分组
静态特性
A48分组
最高工作温度下的静态
（特性：同A3分组）
A4b分组
最低工作温度下的静态
（特性：同A3分组）
A5分组
动态特性
引用文件
GB458984
第5.1.1款
GB3439—82*
GB343982
GB3439-82
GB343982
若无其他规定，T=25
（见GB4589—84第4章）
按本规范第5.2.1款和5.2.2款，本规范第11.2条
按本规范第5.2.1款至5.2.9款，本规范第10.2条
T按本规范第4.1款最大值，
条件：同A3分组
T^按本规范第4.1款最小值，
条件：同A3分组
按本规范第5.2.10款，本规范第10.3条
*GB3439一82《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。7
检验婴求规范值
同本规范第5.2.1款和
同本规范第5.2.1款至
同A3分组
同A3分组
同本规范第5.2.10款
GB7006-86
标有（D）的试验为破坏性的（见GB34589-84第3.6.6款）。
检验或试验
B1分组
B4分组
可焊性
B5分组
温度快速变化：
两槽法（非空封器件）
或：两箱法（空封器件）
随后进行：
加速潮热（D）
器件）
试验后测量：
A3分组）
（非空封
（同A2和
密封（空封器件）
B8分组
电耐久性（168h）
试验后测量：
A3分组）
CRRL分组
（同A2和
引用文件
GB4589—84
第5.2条，附
GB4590—84*
第2.5条
GB4590—84
第3.2条
第3.1条
GB4590—84
第3.5条
GB4590—84
第3.12条和
GB459084
第4.7条
若无其他规定，T=25
（见GB458984第4章）
按方法b（槽焊法）
温度按严格度A（0～100℃）
t>5min
时间按严格度A（
tz<3~10s
温度按本规范第4.1款
循环次数按严格度D（6次）
同A2和A3分组
按规定
平均功耗为：
IccH +IeCL
）Vee，
T按本规范第4.1款最大值，Vcc5V同A2和A3分组，在96h内测完
就B4、B5和B8提供计数检查结果*GB4590一84《半导体集成电路机械和气镁试验方法》。标准分享网wwwbzfxwcom免费下载检验要求规范值
同本规范第1章
浸润良好
同A2和A3分组
同A2和A3分组
GB7006—86
C组周期
标有（D）的试验为破坏性的（见GB4589-84第3.6.6款）。条
检验或试验
C1分组
C3分组
引线强度：
弯曲(D)
拉力(D）
封装）
C4分组
（仅对扁平
耐焊接热（D）
试验后测量：
A3分组）
C6分组
（同A2和
恒定加速度(空封器件)
试验后测量：
A3分组）
C7分组
（同A2和
稳态湿热(D)
器件）
试验后测量：
A3分组）
C8分组
（非空封
（同A2和
电耐久性（1000h）
试验后测量：
A3分组）
（同A2和
引用文件
GB4589—84
第5.2条，附
GB4590——84
第2.2条
第2.1条
GB4590—84
第2.6条
GB4590—84
第2.10条
GB4590-84
第3.7条
GB4590—84
第4.7条
若无其他规定，T=25℃
（见GB4589—84第4章）
按规定
按规定
按方法A（260℃槽焊）
同A2和A3分组
按规定
同A2和A3分组
按严格度A（温度85±2℃，
相对湿度80%~90%）
同A2和A3分组
同B8分组
同A2和A3分组，在96h内测完
检验要求规范值
同本规范第1章
无损伤
无损伤
同A2和A3分组
同A2和A3分组
同A2和A3分组
同A2和A3分组
检验或试验
Co分组
高温贮存（D）
试验后测量：
A3分组）
C11分组
标志耐久性
CRRL分组
（同A2和
一鉴定批准
引用文件
GB4590—84
第3.3条
GB4590—84
第4.3条
GB7006-86
若无其他规定，T=25C
（见GB4589—84第4章）
1000h，温度按本规范第4.2款
最大值
同A2和A3分组
按规定
就C4、C6、C7、C8和C9提供计数检查结果鉴定批准后立即进行，以后每年进行一次。条
检验康试验
D8分组
电耐久性（3000h）
附加资料
详细外形图
引用文件
GB4590—84
第4.7条，
GB4589—84
第3.6.1.5项Www.vV99.net
若无其他规定，TA=25℃
（见GB4589-84第4章）
同B8分组
标准分享网wwwbzfxwcom免费下载检验要求规范值
同A2和A3分组
检验要求规范值
e·( -1)
GB7006-86
a.D、J、P型
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