薄膜干涉的本质是由薄膜两个表面反射回来的光经历不同的光程,存在光程差而造成的.
通常情况下,我们观察到的干涉条纹是在光源一侧,这是因为相互干涉的光线彼此之间只相差一次反射,而且一般只经历了1次反射（上表面或下表面）,这样的光线强度衰减较小.较为容易观察到.
在非光源的一侧,也应该可以观察到由多次反射,不同反射面的光相互干涉形成的干涉条纹,但由于这些干涉条纹是由至少经历了两次反射而成（下表面反射或又被上表面反射向下）,其光线强度衰减较大,较暗,所以我们一般在光源同侧观测干涉条纹. 薄膜干涉的本质是由薄膜两个表面反射回来的光经历不同的光程,存在光程差而造成的.
通常情况下,我们观察到的干涉条纹是在光源一侧,这是因为相互干涉的光线彼此之间只相差一次反射,而且一般只经历了1次反射（上表面或下表面）,这样的光线强度衰减较小.较为容易观察到.
在非光源的一侧,也应该可以观察到由多次反射,不同反射面的光相互干涉形成的干涉条纹,但由于这些干涉条纹是由至少经历了两次反射而成（下表面反射或又被上表面反射向下）,其光线强度衰减较大,较暗,所以我们一般在光源同侧观测干涉条纹.