GB/T 18663.2-2007
基本信息
标准号： GB/T 18663.2-2007
中文名称：电子设备机械结构 公制系列和英制系列的试验 第2部分：机柜和机架的地震试验
标准类别：国家标准(GB)
英文名称：Mechanical structures for electronic equipment-Tests for IEC 60917 and IEC 60297-Part 2:Seismic tests for cabinets and racks
标准状态：已作废
发布日期：2007-04-25
实施日期：2007-08-01
作废日期：2022-05-01
下载格式：pdf zip
相关标签： 电子设备 机械 结构 公制 系列 英制 试验 部分 机柜 机架 地震
标准分类号
标准ICS号： 电子学>>31.240电子设备用机械构件
中标分类号：电工>>电工综合>>K05电工产品机械结构
出版信息
出版社：中国标准出版社
页数：出版社：
标准价格：29.0
出版日期：2007-08-01
相关单位信息
首发日期：2007-01-23
起草人：冯柏忠、周中期、殷宝剑、张开国、张钰、田蘅
起草单位：深圳市中兴通讯股份有限公司、北京四方继保自动化有限公司、国家电网公司电力自动化研究院
归口单位：全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会
提出单位：全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本部分规定了符合GB/T 19290和GB/T 19520系列的机柜或机架的地震试验要求。本部分有助于保证机柜或机架的物理完整性和环境性能，考虑了不同应用和不同地域中不同性能等级的需要。
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标准内容
ICS31.240
中华人民共和国国家标准
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验
第2部分：机柜和机架的地震试验Mechanical structures for electronic equipment-Tests forIEC 60917 andIEC60297-Part 2:Seismic tests for cabinets and racks（IEC61587-2:2000IDT）
2007-01-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2007-08-01实施
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000GB/T18663《电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验》分为以下3个部分：第1部分：机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求；一第2部分：机柜和机架的地震试验；第3部分：机柜、机架和插箱的电磁屏蔽试验本部分为GB/T18663的第2部分。本部分等同采用IEC61587-2：2000《电子设备机械结构IEC60917和IEC60297的试验
第2部
分：机柜和机架的地震试验》（英文版）。为便于使用，本部分作了下列缩辑性修改：a）“本标准”一词改为“本部分”；b）删除了国际标准的前言；
c）小数点“，”改为“”。wwW.vv99.Net
本部分由中国电器工业协会提出本部分由全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会归口。本部分起草单位：中兴通讯股份有限公司、北京四方继保自动化有限公司、国家电网公司电力自动化研究院
本部分主要起草人：冯柏忠、周中期、殷宝剑、张开国、张钰、田。1
1范围
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验
第2部分：机柜和机架的地震试验本部分规定了符合GB/T19290和GB/T19520系列的机柜或机架的地震试验要求，它仅全部或部分地适用于GB/T19290和GB/T19520系列的电子设备机柜或机架的机械结构，而不适用于机械结构中的电子设备或系统
本部分有助于保证机柜或机架的物理完整性和环境性能，考虑了不同应用和不同地域中不同性能等级的需要。它的目的是让用户在选择设备以满足其特定的需要时有充分的把握。选择的特定试样见图1。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T18663的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成办议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2423.10一1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦)(idtIEC60068-2-6:1982）
GB/T2424.25一2000电工电子产品环境试验：第3部分：试验导则地震试验方法（idtIEC60068-3-3：1991)
电子设备机械结构公制系列和英制系列的试验第1部分：机柜、机架、GB/T18663.12002
插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求（IEC61587-1：1999,IDT）GB/T19290.2一2003发展中的电子设备构体机械结构模数序列第2部分：分规范25mm设备构体的接口协调尺寸（IEC60917-2：1992，IDT）GB/T19520.1—2007电子设备机械结构482.6mm(19in）系列机械结构尺寸第1部分：面板和机架（IEC60297-1：1986.IDT）GB/T19520.2—2007电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第2部分：机柜和机架结构格距（IEC60297-2:1982,IDT）GB/T19520.32004电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第3部分：插箱及其插件（IEC60297-3：1984，IDT）GB/T19520.4一2004电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第4部分：插箱及其插件附加尺寸（IEC60297-4（1995十A1)：1999,IDT）IEC60068-2-47：1999环境试验第2-47部分：试验方法振动、冲击及类似动态试验用元件、设备和其他物品的安装
IEC60068-2-57：1999环境试验第2-57部分：试验试验Ff：振动时间历程法IEC60917-2-1：1993发展中的电子设备构体机械结构模数序列第3部分：分规范25mm设
备构体的接口协调尺寸详细规范机柜和机架的尺寸IEC60917-2-2：1994发展中的电子设备构体机械结构模数序列第2部分：分规范
25mm设
GB/T18663.2—2007/1EC61587-2:2000备构体的接口协调尺寸第2篇：详细规范插箱、机箱、背板、面板和插件的尺寸3地震和振动试验要求
载荷和安装条件以及机柜或机架尺寸和试验的配置应符合本部分要求。机板或机架的配置、安装以及载荷条件（见图1、表1)基于GB/T18663.12002中的5.2。尺寸单位为来
预拟我假
极拟教荷M
地大深度为mm
固定到前后立程
携拟葡
周定到麻部
机柜标准
GB/T 19520.2
IEC 60917-2-1
3. 1试验条件和试验过程
图1试验机柜或机架的配置
表1机柜内的裁荷分布
25×4层
25×1层
本部分仅述及单轴试验要求的过程。。
总载椅
3.1.1机柜或机架的地试验应采用振动台和装满插箱或模拟载荷的机壳进行。插箱或模拟载荷在机柜或机架的整个高度上均勾分布（见图1)。如果采用模拟插箱，应装上类似于典型描箱所用的插件（见GB/T18663.1一2002)。3.1.2机柜或机架应直接安装到振动台上，面不采用像混凝土支座那样的连接。这样与预期的地脚螺检固定方式一致，也符合IEC60068-2-47：1999的要求。试验应在图1所示的条件下进行。试验的配置见图2。
位移传够器
波形发华器
和控制器
电动机乱热行机构
加速控装
GB/T 18663.2—2007/IEC 61587-2:2000机志或机架
长行程动台
监视器
图2试验配置示惠图
3.1.3为了本试验的目的，地震试验波应为在图3和图5中所描述的合成波形。已经选择的孵种波形(波形A和被形B)表示两个严酷等级。选择两种波形的原因是，可以经济地制造适合不同地区的机柜和机架。验报告必须指明本试验选择了哪个滤形（A或B或两个都选择)。图 3所示的波形A(北美建议)，它的严酷程度低于图5所示的波形B(日本建议)。1.75
时间/s
解3地震合成波形A
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000l0t
率/H2
图 4 图 3 要求的响应谱
时间/s
图5地合成波形B
3.1.4试验波的零周期加速度应按照要求的等级与表2中表示的严醋等级一致。ID?
3.1.5试验被形的响应谱应达到或超过所要求的响应谱。可参考IEC60068-2-57:1999,如图4和图6所示。
频率/H2
图 6 图 5 要求的响应谱
时间历程持续应如图3和图51所示。GB/T 18663.2—2007/IEC 61587-2:2000地震试验宜以单轴加速度进行。参见CB/T2424.25—2000中第15章和IEC60068-2-57：1999中 9.3.1.
试验期间必须测量机壳上边缘的位移，机壳相对于安装表面位置的最大偏移不应超过50mm。试验评定
结构试验期间考察机柜或机架以及紧固件的物理性能。永久性结构损坏的定义为试验机柜或机架的任何承载零件的变形或连接失效。永久性结构损坏的典型例了是立柱弯出、底座变形、断裂和固定媒栓或紧固件失效。机械损坏的定义为任何零件的错位或脱落。机械损坏的例子如门或板打元。容许的修理或替换为，例如重新拧紧松动的固定螺栓。接地连续性检验应按照GB/T18663.1—2002中6.1进行。试验后，要板等不应从设备结构上脱离，门不应打开，所有锁和插销应能起作用。表 2 地度试验条件一览表
试验项目
试验波形和参数
时间历程的零周期加速度
武验设备的安装
试验响应谱(TRS)
输人波形的轴条件
本部分要求的条款内容
试验波:模拟地震的随机脉冲
时间历程持续时间见图 3 和图 5试验频率范由见图 4 和图 6
时间历程强烈部分的持续时间：每辅1 次时同历程,见图 3 和图 5
振动台的加速度严酷程度：
见图4和图6
试验配置（图1)
试验响应避的波形应达到或超过所选择的要聚响应谱(RRS)2%阻尼比
单轴条件：
每个 X-Y-2 轴各自独击
IEC 61587-2;2000 中误为如图 4 和图 6,应为如图 3 和图 5\。参考标准和相关杀款
1KC 60068-2-57:1999
GR/T 2424, 25—2000 中第 13 章IEC 60068-2-57:1999 中 6.3. 2JEC 60068-2-57:1999 中 6. 1
GB/T 2121. 25—2000 中 5. 3
IEC 60068-2-57 :1999 中 6. 3. 3JEC 60068-2-57:1999 中 A, 2
GB/T 2423. 10—1995 中 4. 2 .附录 A, 3. 1、A, 3, 2
[FC60068-2-47,1999中第5章
IEC: 60068-2-57,1999 中 A. 21EC 60068-2-57 :1999 中 9. 3. 1GH/T 2424, 25—2000 中第 15 5
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中华人民共和国国家标准
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验
第2部分：机柜和机架的地震试验Mechanical structures for electronic equipment-Tests forIEC 60917 andIEC60297-Part 2:Seismic tests for cabinets and racks（IEC61587-2:2000IDT）
2007-01-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2007-08-01实施
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000GB/T18663《电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验》分为以下3个部分：第1部分：机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求；一第2部分：机柜和机架的地震试验；第3部分：机柜、机架和插箱的电磁屏蔽试验本部分为GB/T18663的第2部分。本部分等同采用IEC61587-2：2000《电子设备机械结构IEC60917和IEC60297的试验
第2部
分：机柜和机架的地震试验》（英文版）。为便于使用，本部分作了下列缩辑性修改：a）“本标准”一词改为“本部分”；b）删除了国际标准的前言；
c）小数点“，”改为“”。wwW.vv99.Net
本部分由中国电器工业协会提出本部分由全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会归口。本部分起草单位：中兴通讯股份有限公司、北京四方继保自动化有限公司、国家电网公司电力自动化研究院
本部分主要起草人：冯柏忠、周中期、殷宝剑、张开国、张钰、田。1
1范围
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000电子设备机械结构
公制系列和英制系列的试验
第2部分：机柜和机架的地震试验本部分规定了符合GB/T19290和GB/T19520系列的机柜或机架的地震试验要求，它仅全部或部分地适用于GB/T19290和GB/T19520系列的电子设备机柜或机架的机械结构，而不适用于机械结构中的电子设备或系统
本部分有助于保证机柜或机架的物理完整性和环境性能，考虑了不同应用和不同地域中不同性能等级的需要。它的目的是让用户在选择设备以满足其特定的需要时有充分的把握。选择的特定试样见图1。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T18663的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成办议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2423.10一1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦)(idtIEC60068-2-6:1982）
GB/T2424.25一2000电工电子产品环境试验：第3部分：试验导则地震试验方法（idtIEC60068-3-3：1991)
电子设备机械结构公制系列和英制系列的试验第1部分：机柜、机架、GB/T18663.12002
插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求（IEC61587-1：1999,IDT）GB/T19290.2一2003发展中的电子设备构体机械结构模数序列第2部分：分规范25mm设备构体的接口协调尺寸（IEC60917-2：1992，IDT）GB/T19520.1—2007电子设备机械结构482.6mm(19in）系列机械结构尺寸第1部分：面板和机架（IEC60297-1：1986.IDT）GB/T19520.2—2007电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第2部分：机柜和机架结构格距（IEC60297-2:1982,IDT）GB/T19520.32004电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第3部分：插箱及其插件（IEC60297-3：1984，IDT）GB/T19520.4一2004电子设备机械结构482.6mm（19in）系列机械结构尺寸第4部分：插箱及其插件附加尺寸（IEC60297-4（1995十A1)：1999,IDT）IEC60068-2-47：1999环境试验第2-47部分：试验方法振动、冲击及类似动态试验用元件、设备和其他物品的安装
IEC60068-2-57：1999环境试验第2-57部分：试验试验Ff：振动时间历程法IEC60917-2-1：1993发展中的电子设备构体机械结构模数序列第3部分：分规范25mm设
备构体的接口协调尺寸详细规范机柜和机架的尺寸IEC60917-2-2：1994发展中的电子设备构体机械结构模数序列第2部分：分规范
25mm设
GB/T18663.2—2007/1EC61587-2:2000备构体的接口协调尺寸第2篇：详细规范插箱、机箱、背板、面板和插件的尺寸3地震和振动试验要求
载荷和安装条件以及机柜或机架尺寸和试验的配置应符合本部分要求。机板或机架的配置、安装以及载荷条件（见图1、表1)基于GB/T18663.12002中的5.2。尺寸单位为来
预拟我假
极拟教荷M
地大深度为mm
固定到前后立程
携拟葡
周定到麻部
机柜标准
GB/T 19520.2
IEC 60917-2-1
3. 1试验条件和试验过程
图1试验机柜或机架的配置
表1机柜内的裁荷分布
25×4层
25×1层
本部分仅述及单轴试验要求的过程。。
总载椅
3.1.1机柜或机架的地试验应采用振动台和装满插箱或模拟载荷的机壳进行。插箱或模拟载荷在机柜或机架的整个高度上均勾分布（见图1)。如果采用模拟插箱，应装上类似于典型描箱所用的插件（见GB/T18663.1一2002)。3.1.2机柜或机架应直接安装到振动台上，面不采用像混凝土支座那样的连接。这样与预期的地脚螺检固定方式一致，也符合IEC60068-2-47：1999的要求。试验应在图1所示的条件下进行。试验的配置见图2。
位移传够器
波形发华器
和控制器
电动机乱热行机构
加速控装
GB/T 18663.2—2007/IEC 61587-2:2000机志或机架
长行程动台
监视器
图2试验配置示惠图
3.1.3为了本试验的目的，地震试验波应为在图3和图5中所描述的合成波形。已经选择的孵种波形(波形A和被形B)表示两个严酷等级。选择两种波形的原因是，可以经济地制造适合不同地区的机柜和机架。验报告必须指明本试验选择了哪个滤形（A或B或两个都选择)。图 3所示的波形A(北美建议)，它的严酷程度低于图5所示的波形B(日本建议)。1.75
时间/s
解3地震合成波形A
GB/T18663.2—2007/IEC61587-2:2000l0t
率/H2
图 4 图 3 要求的响应谱
时间/s
图5地合成波形B
3.1.4试验波的零周期加速度应按照要求的等级与表2中表示的严醋等级一致。ID?
3.1.5试验被形的响应谱应达到或超过所要求的响应谱。可参考IEC60068-2-57:1999,如图4和图6所示。
频率/H2
图 6 图 5 要求的响应谱
时间历程持续应如图3和图51所示。GB/T 18663.2—2007/IEC 61587-2:2000地震试验宜以单轴加速度进行。参见CB/T2424.25—2000中第15章和IEC60068-2-57：1999中 9.3.1.
试验期间必须测量机壳上边缘的位移，机壳相对于安装表面位置的最大偏移不应超过50mm。试验评定
结构试验期间考察机柜或机架以及紧固件的物理性能。永久性结构损坏的定义为试验机柜或机架的任何承载零件的变形或连接失效。永久性结构损坏的典型例了是立柱弯出、底座变形、断裂和固定媒栓或紧固件失效。机械损坏的定义为任何零件的错位或脱落。机械损坏的例子如门或板打元。容许的修理或替换为，例如重新拧紧松动的固定螺栓。接地连续性检验应按照GB/T18663.1—2002中6.1进行。试验后，要板等不应从设备结构上脱离，门不应打开，所有锁和插销应能起作用。表 2 地度试验条件一览表
试验项目
试验波形和参数
时间历程的零周期加速度
武验设备的安装
试验响应谱(TRS)
输人波形的轴条件
本部分要求的条款内容
试验波:模拟地震的随机脉冲
时间历程持续时间见图 3 和图 5试验频率范由见图 4 和图 6
时间历程强烈部分的持续时间：每辅1 次时同历程,见图 3 和图 5
振动台的加速度严酷程度：
见图4和图6
试验配置（图1)
试验响应避的波形应达到或超过所选择的要聚响应谱(RRS)2%阻尼比
单轴条件：
每个 X-Y-2 轴各自独击
IEC 61587-2;2000 中误为如图 4 和图 6,应为如图 3 和图 5\。参考标准和相关杀款
1KC 60068-2-57:1999
GR/T 2424, 25—2000 中第 13 章IEC 60068-2-57:1999 中 6.3. 2JEC 60068-2-57:1999 中 6. 1
GB/T 2121. 25—2000 中 5. 3
IEC 60068-2-57 :1999 中 6. 3. 3JEC 60068-2-57:1999 中 A, 2
GB/T 2423. 10—1995 中 4. 2 .附录 A, 3. 1、A, 3, 2
[FC60068-2-47,1999中第5章
IEC: 60068-2-57,1999 中 A. 21EC 60068-2-57 :1999 中 9. 3. 1GH/T 2424, 25—2000 中第 15 5
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