中华人民共和国电子行业军用标准FL.5961
半导体分立器件
SJ50033/2-94
3CK2904、3CK2904A3CK2905和
3CK2905A型PNP硅小功率开关
晶体管详细规范
Semiconductordiscretdevice
Detail specificationfor type3CK2904,3CK2904A,3CK2905and3CK2905APNP siliconlow-powerswitchingtransistor1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3CK2904、3CK2904A.3CK2905和
3CK2905A型PNP硅小功率开关
晶体管详细规范
Semiconductor discret deviceDetailspecificationfortype3CK2904,3CK2904A.3CK2905and3CK2905A PNP silicon low-power switching transistor1范围
1.1主顾内容
SJ50033/2-94
本规范规定了3CK2904.3CK2904A，3CK2905和3CK2905A型PNP硅小功率晶体管（以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GIB33半导体分立器件总规范》1.3条的规定，提供的质量保证等级为警军.韩军和超特军三级，分别用字母GP、GT和GCT表示。2引用文件
GB 4587 84
4双极型晶体管测试方法
GB 758187
GjB 33 85
GJB 128 86
3要求
3.1详细要求
半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布建筑321---标准查询下载网
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1994-12-01实施
SJ50033/2--94
器件的设计、结构和外形尺寸应按GB33和本规范的规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料应为可伐。引出端表面涂层应为镀金、键锡或没锡。对引出材料格层要求进择或另有要求时，在合同或订单中应明确规定(见6.3)。3.2.2器件结构
采用PNP硅外延平面型结构。
3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB7581的A3-02B型及如下规定。见图1。D
引出端极性；
电0.3国x?
1，发射板
巢电极
SJ50033/2-94,
A3-02B
外形尺寸
最大额定值和主要电特性（TA=25C）3.3.1最大额定值
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
TA-25C
注，1）T>25C，按3.43mW/C的速率线性降额。2）Tc>25C，按17.2mW/C的速率线性降额。3.3.2主要电特性
特号(单位)
测试象件
Va=-10V
Va=-10V
Va=-10V
ic=10mA
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK290SA
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
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T和T,
65~ + 200
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最大但
符号(单位)
fr(MHz)
Can(pF)
tom(ns)
ta(ns)
SJ50033/2—94
测试条件
Vce-10V
lc-150mA
Vc=-10V
Ic=500mA
Vce=-20V
Ie=50mA
f=100MHz
Va=-10V
Ic=100mA
Ig=10mA
Ic=100mA
Igm = Ir=10mA
注：1)脉冲法(见4.5.1)
3.4电测试要求
电测试应符合GB4587及本规范的规定。3.5标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规定
抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2监定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
所有型号
所有型号
所有型号
所有型号
最小值
最大值
筛选应按GJB33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1进行，超过本规范表1极限值的器件应于剔除。
(见 GJB 33表 2)
7.中间参数测试
8.功率老化
9.最后测试
4.3.1功率老化条件
功率老化条件如下：
TA=25C ±3C
Vc -30V
Ptot=600mW
SJ 50033/2—94
测试和试验
Ln和 hyFa Ices
按本规范表1的A2分组；
AIcaoi=初始值的100%或5nA，
取其较大者；AhFE4\±15%
注；不允许器件上加散热器或强追风冷。4.4质量-致性检验
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A红检验
A组检验应按GIB33和本规范表1的规定进行。4.42B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。最后测试和变化量（△）要求应按本规表4的步骤进行。
4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。最后测试和变化量（△）要求应按本规范囊4的步骤进行。
格验和试验方法
检验和试验方法应接本规范相应的表和下列规定：.5.1脉冲测试
脉冲测试应接GJB128的3.3.2.1的规定。4.5.2输入电容
本试验应按本规范附录B规定的方法进行。4.5.3热阻（仪进行鉴定试验）
本试验应采用如下细节：
施加功率时的集电极电流应为90mA。集电集一发射极电压为10V。
基准温度的测量点为管壳。
盐准点提度京为25℃c
办装方监应是管壳市数热慧，
最大降限应为59r/W。
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检验或试验
A1分组
外观及机械检验
A2分组
电极一基极
击穿电压
集电极一基极
击穿电压
集电极一发射极
出穿电压
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
集电极一基极
截止电流
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
发射极一基极
截止电流
集电极一发射极
截止电流
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
正向电流传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
正向电流传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
正向电演传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
GJB 128
本规范
附录A
SI50033/2—94
表1A组检验
GB4587
发射极一基极开路
Fe=10μA
集电极一基极开路
Ig= 10μA
发射极一基极开路
le=10mA
脉冲法(见4.5.1)
发射极一基极开路
Va=-50V
集电极一基极开路
Va=-4V
基极-发射极短路
Vee=-40V
Va=60V
VuE\-10V,I.\0.1mA
Vce= - 10V, Ie=1.0mA
V(= - 10V, Ie=1.0mA
V(BR)CBO
V(BR)EH)
V(HRICEO
极限值
最小最大
检验或试验
3CK2905A
正向电流传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
正向电流传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
集电极一发射极
饱和压降
集电极一发射极
饱和压降
基极-发射极
饱和压降
基极一发射极
饱和压降
A3分组此内容来自唯久标准下载网
高温工作：
集电极-基极
截止电流
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
低温工作：
正向电流传输比
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
3CK2905A
A4分组
小信号短路正向
电流传输比
(需要时)
3CK2904
3CK2905
3CK2904A
SJ50033/294
续表1
GB 4587
V(g= - 10V, I( = 150mA
脉冲法(见4.5.1)
Va=-10V,Ic=500mA
脉冲祛（见4.5.1)
le= 150mA, Ix= 15mA
脉冲法(见4.5.1)
Ie= 500mA, Ig= 50mA
脉冲法(见4.5.1)
Ie=150mA.In=15mA
脉冲法(见4.5.2)
I: 500mA, Ig= 50mA
脉冲法(见4.5.1)
T=+150℃
发射极-基极开路
Voa= -50V
TA= -55
Vc = -10V, Ic = 10mA
Vo=-10V
Ie=ImA
J1khiz
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VcEmml
VeElast12
Ve at)2
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极限值
最小最大
检验或试验
3CK2905A
特征额率
开路输出电客
帮入电容
(输出开路）
饱和开启时间
他和关阅时间
AS、A6和A7分
不适用
检验和试验
BI分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击(温度衙环)
细治费
0.粗检记
氧后御试
3分组
移态工作寿单
最后测试：
月指内目应
(计验证)
缺今强度
本规范
附录3
SJ 50033/2-94
续表1
GB 4587
Vag-20V,I:-50mA
f=100MHz
Vc= - 10V, Ig= 0
f-IMHz
Ven--0.5V
Ic=5. f= 1MHz
I,= 100mA, Ix = 10mA
I:100mA
m= In-s IJmA
表2B组检验
GJB12S
试验条件Y
试验条件C
见表4.步深1、3和4
Vcs\ - 10V,P= C0m W
TA=25±3C
不允许器件加散热器或强追风冷，见表4、步骤2和5
日检标准按整定时的设计
试验条件A
极限值
每批一个器
件，0失效
20(C=0)
检验和试验
B6分组
高温寿命(不工作)
量后测试：
检验或试验
CI分组
外形尺寸
C2分组
热冲击(玻璃应力)
引出端强度
a.细检漏
b.粗检漏
综合湿度/湿度
同期试验
外观及机械试验
最后测试：
C3分组
变毅报动
恒定加速度
最后测试
C4分组
盐气(适用时)
CS分组
不适用
C6分组
稳态工作寿命
最后测试：
SJ 50033/294
续表2
GJB128
Ta=200t
见表4，步骤2和5
表3C组检验
GJB128
见图1
试验条件A
试验条件E
试验条件H
试验条件C
见表4.步强1.3和4
见表4，步骤1、3和4
TA=25±3C
Va=-10V
Pa600mW
不允许器件加散热器或强追
见表4.步骤2和5
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极限值
最小最大
检验或试验
C7分组
高温工作：
集电极一发射极
饱和压降
低温工作：
基极一发射极
饱和压降
检验或试验
集电极-基极截止电流
3CK2904,3CK2905
3CK2904A,3CK2905A
集电板-基极截止电流
3CK2904.3CK2905
3CK2904A.3CK2905A
集电极-发射极炮和压降
正闸电流传输比
3CK2904.3CK2904A
3CK2905,3CK2905A
正向电流传输比
SJ 50033/2—94
续表3
GJB128
Ta-+150C
Ie=150mA
Ig=15mA
脉冲法(见4.5.1)
Ta= -55c
Tc=150mA
Ig=15mA
脉冲法(见4.5.1)
B组和C组的最后测试
GB 4587
发射极-基极开路
Va-50V
发射极-基极开路
VoE -50V
Ic=150mA
Ig=15mA
脉冲法(见4.5.1)
Vu--10V
Ie=150mA
脉冲法(见4.5.1)
Vu--10V
Ie=150mA
脉冲法(见4.5.1)
注：1）对于本试验，超过A组极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应接GJB33的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
极限值
最小最大
极限值
最小最大
初始值的
±25%1)
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