SJ 20074-1992
基本信息
标准号： SJ 20074-1992
中文名称：半导体集成电路Jμ8255A型可编程外设接口详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
下载格式：pdf zip
标准分类号
中标分类号：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
关联标准
出版信息
出版社：电子工业出版社
页数：25页
标准价格：15.0
出版日期：1993-05-01
相关单位信息
起草人：吉国凡、张继勇等
起草单位：机械电子工业部第四十七研究所
归口单位：机械电子工业部电子标准化研究所
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
发布部门：中华人民共和国机械电子工业部
标准简介
本规范规定了半导体集成电路Jμ8255A型可编程外设接口（以下简称器件）的详细要求。
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20074--92
半导体集成电路
Ju8255A型可编程外设接口
详细规范
1992-11-19 发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范围
1.1卞题内穿·
1.2适用范围·
1.3分类…
2引用文伴
3要求
3.1详细要求
3.2设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和涂覆.
电特性-
电试验要求
微电路组的划分
质量保证规定
抽样和检验
鉴定检验
质量一致性检验
检验方法
5交货雅备
5.1包装要求
6说明事项
关于测试欠量的··般规定
订货资料
6.3功能说明、符号租定义
6.4替代性
IKAONKAa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
Ju8255A型可编程外设接口详细规范1范围
1.1主题内容
SJ 20074--92
本规范规定了半导体集成电路Ju8255A型可编程外设接口（以下简称器件）的详细要求。
1.2适川范围
本规范适用丁器件的研制、生产和采购，1.3分类
本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式，额定值和推荐工作条件米分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定1.3.1.1器件型号
器件型号下：
器件型号
Ju8255A
1.3.1.2器件等级
器件名称
可编程外设接口
器件等级为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。本规范中未对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
封装形式!
D40L3（40引线陶瓷双列封装）
C44P3（陶瓷无引线片式载体封装）注：1）按GB7092&半导体集成电路外形寸》。1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
任引山端对于 Vss端的电压
贮存温度范围
引线焊接温度（5s)
结温（Tc-125°℃)
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输入商电平电压
输入低电平电压
外壳工作温度范围
引用文件
SJ 20074-—92
GB3431.1-82非导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2—86半导体集成电路文字符号：引出端功能符号GB4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法GB7092--93半导体集成电路外形尺寸GJB548—88微电子器件试验方法和程序GJB597-88微电路总规范
GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求
3.f详细要求
各项要求应按GJIB597和本规范的规定。3.2、设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。- 2 -
HTTKAONKAca-
潮陶雅陶服
SJ20074—92
ERESET
片式载体封载引出端排列
图1引出端排列
3.2.2功能框图
功能框图应符合图2的规定。
39 PAS
35 RESET
34 DO
32日 D2
31 D3
25 PB7
24 PB6
22 PB4
21 PB3
双列封装引端排列
双间数
据总线
D0~ D7
数据总线
3.2.3功能说明、符号和定义
SJ 20074—92
图2功能挺图
功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定，3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6的规定。3.4电特性
路口B
电特性应符合表1的规定，若无其它规定，适合丁全1作温度范围。3.5电试验要求
PAO～PA?
PC4~PC7
PC0~PC3
PB0~PB7
各级器件的电试验要求，应为衣2所规定的有关分，各分组的比溅试按表3的规定。
3.6标惠
标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微出路组的划分
TKAONKAa-
SJ 20074--92
本规范所涉及的器件为第107微电路组（见GJB597附录E），电特性
输入低电车电压
输入高电平电压
输出低电平电压
（数据总线）
输出低电乎电压
（外设端口）
输出高电乎电压
（数据总线）
输出高电平电压
（外设端）
达林顿驱动电流
（B和C端口）
电源电流
输入负载电流
高阻态泄漏电流
输入电容
输入/输出电容
读信号前地址建
就时间
读信号结束后
地址保持时间
读脉冲宽度
数挑有效延迟时
间（从READ
开始）
读信导结惠到数
据总线浮出时间
两次读或之间
的时润间隔
写信号前地址建
立时间
YoL(DB)
VOL(FBR)
YOH(H)
VOH(PER)
IguAAV-RL)
Th(RII-AX)
ta(RL-DX)
Fgu(AV-WL)
条种2）
loL=2.5mA
foL=1.7mA
foH=-400μA
ToH=-200μA
V-Vop到ov
Vo-Ypp到0.45 V
Te=25 °c, Ypp=0 V,
F-1MRz
Tc=25 \C,Ypp -0 V,
1 MHz，未端接地
Ci-l00 pF
规范值
序号1
写信号结束店地
址保持时间
写脉冲宽度
数据有效到马信
号结束的时间
写信号结束后的
数据保证时间
WR-1 到输出时
RD前外部数据
输入时间
RD后外部数据
保持时间
ACK脉宽
STB脉宽
hWH-AX)
fwiwL)
Tsu(DV-WH)
th(WH-DV)
farwH-ovy
su(1V-RL
thRH-Ix)
fwrACRL)
TW(acKL)
STE结束前外部
ta(PERV-STRH)
数据建立时间
STB 结束后外部4bSTBH-PERZ)
数据的保持时间
从 ACK-0 到翰
出有效延退时间
从 ACK-1到输
出浮出诞迟时间
从WR-1到
OBF =0 延迟时
从ACK-0到
OBF=I 延时
从STB-0到
IBF=1延巡时间
从 RD-I1 到
IBF=0延迟时间
从RD-O到
INTR-0 延退时
taiACKL-PERVI
ta[ACKH-PERZ)
Fa(WH-ORFT.
d(ACKL-OBFH)
f&(STBL-IBFH)
a(RH-FBFL)
fd(RL-INTRL)
SJ 20074—92
续表1
条件2）
Ct=100 pF
Cr=[00 pF
Ch=100 pF
规范值
10，11
10，11
TTKAONKAa-
序号0
从 STB-1 到
[NTR-1 延迟时
从ACK-1到
INTR=|送时
从 WR=1 到
INTR-O 延想的
++(STBH-INTRH)
tHACKH INTRH!
fd(WL-INTRL)
SJ20074—92
续表1
条件2）
CL=100 pF
法：1）本表中参数的序号与时序图中参数的编号是一致的；2）若其它规定，Tm~55-~125n心，Vuu=5±0.5V，Vss=V表2出试验要求
试验婴求
中间（老化前）它测试（方法AI，A75004)
最终电测试1）
（方法5004）
A红试验要求2）
（方法5005)
B 组 VZAp 试验
C组终点用测
（方法5005）
C组检验增加的分组
D组终点电试
（方法5005）
B级器件
现范值
分组（见表3)
B1级器件
A1, A2. A3, A7,A8, A9, A10, A1, A2, A3, A7, A9A11
A1,A2, A3,A4,A7,A8,A9,
见本规范4.5.3条
A2. A3, A8
不要求
A2，A8（仅125°C)
注：1）A1．A7分组要求PDA计算（见本规范4.2条）。2A4分组（C、（）仪用于鉴定（见本规范4.4.1条）波形
Al, A2. A3, A4, A7. A9
见本规范4.5.3条
A2, A8 (仅 125 PC)
A2,A8 （仅 125 cC)
VOLPER?
YOEIDB)
VOH(FEHi
SJ20074-—92此内容来自唯久标准下载网
表3A组测试
foL -2.0 rmA
foL =1.7 mA
IoH =400 μA
1OH=-200 μA
F=Vp到0V
Vo - Vp到 0.45 V
徐Tc=125°C外，参数、条件、规范值均同AI分组：除 Tc=-55 \C 外，参数、条件、规范值均后A1 分纠。G
Vpn=0 V, f=1 MHz
Vp=0 V，f-1 MHz 未测试
端接地
规范值
Tc=25 ℃C,按 6.2 条观定，在 VpD =4.5 V 和 YpD-5.5 V 下分别进行功能测试,除Tc-[25°℃和-55°℃外：均同A7分纠L13
Esu AV-RL
FhRH-AXI
taiRL-DX
tdiRH-DZI
fsurAV-WL)
FhWH-AXI
furwH-on
LsuY-RL)
TWiACKLI
w(STBL)
FePERV-STHHS
(STBH-PERZ)
Ci=100 pP
Gj=100 pF
8，12
10, 11
TKAONKAa-
Fa(ACKIL-PERY)
tt(ACKH-PERZ)
SJ 20074—92
续表3
Ch=100 pF
CL=100 pF
TaCWEL-OBFLL
L&ACKL-OBTH!
Ld(STBL-IBFH)
drRH-IBEL)
ta(RI-INTRL.)
LaISTBE-INTRH)
d(ACKH-INTRH)
TINTRL)
除 Tc-125°C外，参数、条件、规范值均同 A9分组除 Tr严-55 ℃外，参数、条件、规范值均同 A9 分组。电源
注：①RI取合适的限流电：
?CJ=100pF±20%：
③VzAP=400V，在器件输入端上测得：③脉冲转换时间（tTtH）≤50ns（10%～90%），规范值
图3高电压（VzAp）试验电路
接被测器件
10, 11
SJ 20074—92
注：@引山端PA0～PA7加频率为1kHz的波：②引L端D0~D7接150pF电容：
②引出端RESET开始时置“I\，然后接地。40
图4老化和寿命试验线路图
- 10 -
测试点
交流测试输入/输出波形图
KAONKAca-
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半导体集成电路
Ju8255A型可编程外设接口
详细规范
1992-11-19 发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范围
1.1卞题内穿·
1.2适用范围·
1.3分类…
2引用文伴
3要求
3.1详细要求
3.2设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和涂覆.
电特性-
电试验要求
微电路组的划分
质量保证规定
抽样和检验
鉴定检验
质量一致性检验
检验方法
5交货雅备
5.1包装要求
6说明事项
关于测试欠量的··般规定
订货资料
6.3功能说明、符号租定义
6.4替代性
IKAONKAa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
Ju8255A型可编程外设接口详细规范1范围
1.1主题内容
SJ 20074--92
本规范规定了半导体集成电路Ju8255A型可编程外设接口（以下简称器件）的详细要求。
1.2适川范围
本规范适用丁器件的研制、生产和采购，1.3分类
本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式，额定值和推荐工作条件米分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定1.3.1.1器件型号
器件型号下：
器件型号
Ju8255A
1.3.1.2器件等级
器件名称
可编程外设接口
器件等级为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。本规范中未对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
封装形式!
D40L3（40引线陶瓷双列封装）
C44P3（陶瓷无引线片式载体封装）注：1）按GB7092&半导体集成电路外形寸》。1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
任引山端对于 Vss端的电压
贮存温度范围
引线焊接温度（5s)
结温（Tc-125°℃)
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输入商电平电压
输入低电平电压
外壳工作温度范围
引用文件
SJ 20074-—92
GB3431.1-82非导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2—86半导体集成电路文字符号：引出端功能符号GB4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法GB7092--93半导体集成电路外形尺寸GJB548—88微电子器件试验方法和程序GJB597-88微电路总规范
GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求
3.f详细要求
各项要求应按GJIB597和本规范的规定。3.2、设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。- 2 -
HTTKAONKAca-
潮陶雅陶服
SJ20074—92
ERESET
片式载体封载引出端排列
图1引出端排列
3.2.2功能框图
功能框图应符合图2的规定。
39 PAS
35 RESET
34 DO
32日 D2
31 D3
25 PB7
24 PB6
22 PB4
21 PB3
双列封装引端排列
双间数
据总线
D0~ D7
数据总线
3.2.3功能说明、符号和定义
SJ 20074—92
图2功能挺图
功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定，3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6的规定。3.4电特性
路口B
电特性应符合表1的规定，若无其它规定，适合丁全1作温度范围。3.5电试验要求
PAO～PA?
PC4~PC7
PC0~PC3
PB0~PB7
各级器件的电试验要求，应为衣2所规定的有关分，各分组的比溅试按表3的规定。
3.6标惠
标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微出路组的划分
TKAONKAa-
SJ 20074--92
本规范所涉及的器件为第107微电路组（见GJB597附录E），电特性
输入低电车电压
输入高电平电压
输出低电平电压
（数据总线）
输出低电乎电压
（外设端口）
输出高电乎电压
（数据总线）
输出高电平电压
（外设端）
达林顿驱动电流
（B和C端口）
电源电流
输入负载电流
高阻态泄漏电流
输入电容
输入/输出电容
读信号前地址建
就时间
读信号结束后
地址保持时间
读脉冲宽度
数挑有效延迟时
间（从READ
开始）
读信导结惠到数
据总线浮出时间
两次读或之间
的时润间隔
写信号前地址建
立时间
YoL(DB)
VOL(FBR)
YOH(H)
VOH(PER)
IguAAV-RL)
Th(RII-AX)
ta(RL-DX)
Fgu(AV-WL)
条种2）
loL=2.5mA
foL=1.7mA
foH=-400μA
ToH=-200μA
V-Vop到ov
Vo-Ypp到0.45 V
Te=25 °c, Ypp=0 V,
F-1MRz
Tc=25 \C,Ypp -0 V,
1 MHz，未端接地
Ci-l00 pF
规范值
序号1
写信号结束店地
址保持时间
写脉冲宽度
数据有效到马信
号结束的时间
写信号结束后的
数据保证时间
WR-1 到输出时
RD前外部数据
输入时间
RD后外部数据
保持时间
ACK脉宽
STB脉宽
hWH-AX)
fwiwL)
Tsu(DV-WH)
th(WH-DV)
farwH-ovy
su(1V-RL
thRH-Ix)
fwrACRL)
TW(acKL)
STE结束前外部
ta(PERV-STRH)
数据建立时间
STB 结束后外部4bSTBH-PERZ)
数据的保持时间
从 ACK-0 到翰
出有效延退时间
从 ACK-1到输
出浮出诞迟时间
从WR-1到
OBF =0 延迟时
从ACK-0到
OBF=I 延时
从STB-0到
IBF=1延巡时间
从 RD-I1 到
IBF=0延迟时间
从RD-O到
INTR-0 延退时
taiACKL-PERVI
ta[ACKH-PERZ)
Fa(WH-ORFT.
d(ACKL-OBFH)
f&(STBL-IBFH)
a(RH-FBFL)
fd(RL-INTRL)
SJ 20074—92
续表1
条件2）
Ct=100 pF
Cr=[00 pF
Ch=100 pF
规范值
10，11
10，11
TTKAONKAa-
序号0
从 STB-1 到
[NTR-1 延迟时
从ACK-1到
INTR=|送时
从 WR=1 到
INTR-O 延想的
++(STBH-INTRH)
tHACKH INTRH!
fd(WL-INTRL)
SJ20074—92
续表1
条件2）
CL=100 pF
法：1）本表中参数的序号与时序图中参数的编号是一致的；2）若其它规定，Tm~55-~125n心，Vuu=5±0.5V，Vss=V表2出试验要求
试验婴求
中间（老化前）它测试（方法AI，A75004)
最终电测试1）
（方法5004）
A红试验要求2）
（方法5005)
B 组 VZAp 试验
C组终点用测
（方法5005）
C组检验增加的分组
D组终点电试
（方法5005）
B级器件
现范值
分组（见表3)
B1级器件
A1, A2. A3, A7,A8, A9, A10, A1, A2, A3, A7, A9A11
A1,A2, A3,A4,A7,A8,A9,
见本规范4.5.3条
A2. A3, A8
不要求
A2，A8（仅125°C)
注：1）A1．A7分组要求PDA计算（见本规范4.2条）。2A4分组（C、（）仪用于鉴定（见本规范4.4.1条）波形
Al, A2. A3, A4, A7. A9
见本规范4.5.3条
A2, A8 (仅 125 PC)
A2,A8 （仅 125 cC)
VOLPER?
YOEIDB)
VOH(FEHi
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表3A组测试
foL -2.0 rmA
foL =1.7 mA
IoH =400 μA
1OH=-200 μA
F=Vp到0V
Vo - Vp到 0.45 V
徐Tc=125°C外，参数、条件、规范值均同AI分组：除 Tc=-55 \C 外，参数、条件、规范值均后A1 分纠。G
Vpn=0 V, f=1 MHz
Vp=0 V，f-1 MHz 未测试
端接地
规范值
Tc=25 ℃C,按 6.2 条观定，在 VpD =4.5 V 和 YpD-5.5 V 下分别进行功能测试,除Tc-[25°℃和-55°℃外：均同A7分纠L13
Esu AV-RL
FhRH-AXI
taiRL-DX
tdiRH-DZI
fsurAV-WL)
FhWH-AXI
furwH-on
LsuY-RL)
TWiACKLI
w(STBL)
FePERV-STHHS
(STBH-PERZ)
Ci=100 pP
Gj=100 pF
8，12
10, 11
TKAONKAa-
Fa(ACKIL-PERY)
tt(ACKH-PERZ)
SJ 20074—92
续表3
Ch=100 pF
CL=100 pF
TaCWEL-OBFLL
L&ACKL-OBTH!
Ld(STBL-IBFH)
drRH-IBEL)
ta(RI-INTRL.)
LaISTBE-INTRH)
d(ACKH-INTRH)
TINTRL)
除 Tc-125°C外，参数、条件、规范值均同 A9分组除 Tr严-55 ℃外，参数、条件、规范值均同 A9 分组。电源
注：①RI取合适的限流电：
?CJ=100pF±20%：
③VzAP=400V，在器件输入端上测得：③脉冲转换时间（tTtH）≤50ns（10%～90%），规范值
图3高电压（VzAp）试验电路
接被测器件
10, 11
SJ 20074—92
注：@引山端PA0～PA7加频率为1kHz的波：②引L端D0~D7接150pF电容：
②引出端RESET开始时置“I\，然后接地。40
图4老化和寿命试验线路图
- 10 -
测试点
交流测试输入/输出波形图
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