SJ 2214.2-1982
基本信息
标准号： SJ 2214.2-1982
中文名称：半导体光敏二极管正向压降的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
英文名称：Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
标准状态：已作废
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
作废日期：2015-10-01
下载格式：pdf zip
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
替代情况：被SJ/T 2214-2015代替
出版信息
页数：1页
标准价格：8.0
相关单位信息
标准简介
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二极管正向压降的测试方法本标准适用于光敏二极管止向电压降VF的测试。SJ2214.2-82
1测试正向压降总的要求应符合SJ2214.182《半导体光敏管测试方法总则》。2正向压降VF的测量。
2.1定义
在无光照下极管通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。2正向压降V?的测试原理图应符合下图。2.2
遮光罩
恒流源
3测试步骤
调节恒流源，使直流电流表的读数为规定值，这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V值。www.vv99.net
中华人民共和国电子工业部198211-30发布1983-07-01实施
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1测试正向压降总的要求应符合SJ2214.182《半导体光敏管测试方法总则》。2正向压降VF的测量。
2.1定义
在无光照下极管通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。2正向压降V?的测试原理图应符合下图。2.2
遮光罩
恒流源
3测试步骤
调节恒流源，使直流电流表的读数为规定值，这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V值。www.vv99.net
中华人民共和国电子工业部198211-30发布1983-07-01实施
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