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JB/T 4193-1997

基本信息

标准号: JB/T 4193-1997

中文名称:快速晶闸管

标准类别:机械行业标准(JB)

标准状态:已作废

发布日期:1997-12-17

实施日期:1998-02-01

作废日期:2013-09-01

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相关标签: 快速

标准分类号

中标分类号:电工>>输变电设备>>K46电力半导体期间、部件

关联标准

替代情况:JB 4193-1986;被JB/T 4193-2013代替

采标情况:IEC 747-6-1-1989 MOD IEC/TC 47(C.0)1305-1992 MOD

出版信息

页数:12 页

标准价格:16.0

相关单位信息

归口单位:电子电力学标准化技术委员会

发布部门:电子电力学标准化技术委员会

标准简介

JB/T 4193-1997 本标准是随着快速晶闸管产品制造技术的提高和应用的发展,对 JB 4193-86 进行的修订。 本标准适用于按管壳额定通态电流在 5A 至 1600A,阻断特性对称的快速型反向阻断三极晶闸管(以下简称晶闸管)。非对称快速晶闸管可参照适用本标准。本标准不适用于快速型可断晶曾管。 本标准规定了快速晶曾管的型式尺寸,额定值,特性,检验规则,标志和包装技术等要求。

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标准内容

中华人民共和国机械行业标准
电力半导体器件和整流设备(5)中华人民共和国机械工业部发布JB/T 4193—1997
JB/T 86611997
JB/T 8675—1997
JB/T8736—1998
JB/T8740--1998
JB/T 8757—1998
JB/T 87581998
快速晶闻管
电力半导体模块结构件
电泳涂漆用整流器
电力半导体模块用氮化锯陶瓷基片电化学用整流器
电力半导体器件用热营散热器
确定晶闻管参数值的准购
JB/T4193—1997
国际电工委员会(IEC)的产品空白详细规范标准,是制订对应详细规范(产品标准)的依据和指南。快速品闸管是反向阻断晶闻管的类产品,本标准依据并在技术上等效采用了IEC747一61一1989和IEC/TC17(C·0)1305--1992(分别是<100A和>100A的反向阻断晶闸管空白详细规范)。随着快速晶闸管产品制造技术的提高和应用的发展,JB4193-86《快速晶品闸管》中一些技术要求和性能指标需要调整,特大电流品种需要补充。为适应和促进技术的发展以及与有关标准协调一致,因此有必要修订该标准。
本标准修订的主要内容:
1适用范围的“1A至1000A”修改为“5A至1600A\,有关处作相应的修改或增、删。2结温范的“-40~十100℃”或“-40~+115℃”修改为“40℃~+115℃”或“-40℃~+125℃”。
3增加I的下限值。
4te的上限值由原标准的4、6、8(us)修改为3、5、6(us)。5存温度由原标准的“40~+115℃”或”-40~十130℃”修改为“-40℃~十125℃”或“-40℃~+140℃”
6ItsM,I't去掉L级。
7Vm、IRM、IxRM水平提高。
8IeT、VT、I的上限值降低。
9400A、500A的Vcp0.3V改为0.2V。10ta原标准对ItAV)各级规定不同,现统一规定为S级至Z级。本标准从实施之日起,代替JB4193一86。本标准附录A是标准的附录。
本标准由机械工业部西安电力电子技术研究所提出并归口。本标准主要修订单位:湖北襄樊仪表元件厂,辽宁阜新晶体管厂,清华大学电力电子厂,冶金部自动化研究院电力半导体器件研究设计所,山西永济电机厂元件分厂,浙江云四方电子有限公司。本标准主要起草人:王云龙、董大勇、王晓形、古玉书、庞银锁、林佛松、曾桃英。本标准首次发布于1977年11月1日,第一次修订发布于1986年2月4日。1范围
中华人民共和国机械行业标准
快速晶闸管
JB/T4193—1997
代替JB4153--86
本标准适用于按管壳额定通态平均电流在5A至1600A,阻断特性对称的快速型反向阻断三极晶闻管(以下简称快速晶闸管)。非对称快速晶闸管可参照适用本标准。本标准不适用于快速型可关断晶闻管。本标准规定了快速晶阐管的型式尺寸、额定值、特性、检验规则、标志和包装等技术要求。2引用标准
下列标准包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T2900.32—94
GB/T4589.1—89
GB/T4728.5—85
GB/T 493785
GB/T 493885
JB/T2423-91
JB/T4277—86
JB/T5846—91
JB/T7626—94
3型式尺寸
3.1型号命名
电工术语电力半导器件
半导体器件分立器件和集成电路总规范(idtIEC747-10:1984)电气图用图形符号半导体管和电子管(neqIEC617—5:1983)半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC749;1984)半导体分立器件接收和可靠性(idtIEC147—4:1976)电力半导体器件型号命名方法
电力半导体器件包装技术条件
晶闸管特性曲线计算指南
反向阻断三极晶闸管测试方法
快速晶闸管的型号按JB/T2423规定,如下所示:KK×××-×××
表示电路换向关断时间级别(按表7)表示断态和反向重复峰值电压级数(按表4)表示通态平均电流值(单位:A)表示器件系列为快速型
表示器件门类为晶闸管
3.2图形符号和端(子)识别
电气图用快速晶闸管的图形符号应符合GB/T4728.5的规定,如图1所示。端(子)识别用图形符号的箭头指向阴极端,用顾色识别:红色标志阴被端子,如阳极端子和门极端子也用色标对,则分别使用蓝色(或黑色)和黄色(或自色)。机械工业部1997—12—17批准
1998--02—01实施
3.3外形及安装尺寸
3.3.1螺栓形
A一阳极举
JB/T4193—1997
K一阴极端
G--门极端
螺栓形快速晶闸管的外形及安装尺寸应符合图2及表1的规定注
图2a(KL0G、KL08)
注:端子连接片的外形和取向不予规定,图2b(KL10、KL12)
32M16X1.5
KL20AK36M20X1.5
KL24AK41M24X1.5
KL30AK50M30X2.0Vv99.net
JB/T 41931997
[图2c(KL16A、KL20A、KL24A、KL30A)图2
3116>5
K10K23>10>3.2
10K2710≥3.219±1
1030>103.222±1
1d3栏中M的尺寸表示该孔适用的螺检直径。2J为最大安装高度。
3表中任一外形允许使用予更大的通态平均电流(Ir(Av)。3.3.2平板形
额定通态平均电流(IttAv))小于100A的不推荐用平板形。3.3.2.1凸台平板形
凸台平板形快速晶闸管的外形尺寸应符合图3及表2的规定。号
150±15
≤3.2150±15
200±20
≤4.0|200±20
≤4.0250±25
≤5.0250±25>1
《13050K58
JB/T4193-—1997
注:安装定位孔孔径3.5**mm,孔深1.3~3mm。表2
尺寸代号
200、250、300(允差-10%~10%)3. 2 ~4. 5
3.3.2.2凹台平板形
凹台平板形快速晶闸管的外形尺寸应符合图4及表3的规定。D
尺寸代号
额定值和特性
JB/T4193—1997
200、250、300(允差-10%~10%)3.2~4.5
参数级别
额定断态重复峰值电压(VnR)和额定反向重复峰值电医(Vxx)的级数按表4的规定,4.1.1
Vuy、Vxax
VuX、VRRM
额定通态电流临界上升率(di/dt)的级别按表5规定。表5
断态电压监界上升率(dv/dt)的级别按表6规定。表6
电路换向关断时间(t。)的级别按表7规定。表7
额定值
最大额定值(限值)应符合表8规定,:并适用于整个工作温度范。
Ir(av)
通态峰
值电压
断态重
复蜂值
反向重
复蜂值
4.4特性曲线(不作检验用)
10~150
10~200
20~250
20~400
20~500
JB/T4193—1997
门极缺门极触
发电流发电压
发电压
在企业标准或产品使用说明书中应给出下列特性曲线;2)管壳温度与通态平均电流的降额关系特性曲线;b)通态伏安特性曲线;
c)瞬态热阻抗与时间的关系曲线[ITAv)≥50A的给出];断态电电路换门极控
响关断制开通
压临界
上升率
C、D、
E、F、
D、E、
S、T、
U、V、
x、Y、
d)浪涌电流与周波数的关系曲线和I't持性曲线[It(Av)≥200A的给出];e)门极触发范围特性曲线[ITAV:≥50A的给出]:间
f)中频电流ITRM与脉冲宽度的关系曲线[重复频率作参变量。It5.1遥批检验(A组检验)
每批产品必须按表10进行检验,表10项目全部为非破坏性试验。8
检验项目
电特性
(不能工作)
IgRT、IRM
Ict、I
JB/T4193—1997
检验方法
目检(在正常照明和正常视力条件下)JB/T7626的2.2(25C),2.3(25C)和2.6(25℃)
JB/T7626的2.2(25C)
JB/T7626的2.3和2.6(25C,T)
JB/T 7626的2.7
JB/T7626的2.11
JB/T7626的2.10
JB/T7626的2.9
USL为表9对应的规范上限值。
2dv/dt和di/dt项目在本组仅对It(Av)≥50A的实施。判
标志清晰、表面涂层、
镀层无脱落和损伤
极性颠倒;
V>10USL
Iw3r、IRx>100 USL
符合表9规定
符合表9规定
符合表9规定
符合表9规定
符合表9规定
符合表9规定
AQL(I)
3AQL的具体抽样数见附录A,逐批梭验如初次提交不合格,可按加严检验的办法重新提交一次检验,但只能重新提交一次。
5.2周期检验(B组和C组检验)
正常生产的定型产品按表11和表12除B4每三个月进行一批易焊性试验外,其他项目每年至少应作一批B组和C组检验,标有(D)的项目为破坏性试验。表11
检验项目
转矩(D)(仅适用于
硬引线器件)
易焊性(仅适用于焊
接端子器件)
温度循环(D)
继之密封
放行批确认记录
GB/T4937的2.1.4(Ud):转矩作用的时间10~15s
CB/T4937的2.2.1(Ta);浸锡方法,焊料230±5℃,没人2±0.5起
GB/T4937的3.1.1(Na):两箱法,-40CT循环5次,每循环高低温各暴露1h、转移时间3~4min;
GB/T4937的3.7.5(Q):加压氟油检漏法
合格判据
不损坏
湿润良好
试后测量:
Vrx≤1.1USL
IoRM、IRMS2USL
不漏气
抽样方案
简要给出各分组的有关属性数据,试验前后的VT、IpR、IxkM值和试验结论1抽样方案栏中:n、c分别为抽样数和合格判定数;方括号中的数字为ITuav)≥50A的抽样数。2B3、B4试验可用电特性不良的试验样品;A组、C1和C2分组试验后的样品可用于其它试验项目。9
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