SJ 20182-1992
基本信息
标准号： SJ 20182-1992
中文名称：半导体分立器件 ３ＣＴ６８２、６８３、６８５～６９２和３ＣＴ５２０６型反向阻断闸流晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
英文名称：Semiconductor discrete device-Detail specification for reverse-blocking thyristor for Types 3CT682,683, 685～692 and 3CT5206
标准状态：现行
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
下载格式：pdf zip
标准分类号
中标分类号：矿业>>矿业综合>>D01技术管理
关联标准
出版信息
出版社：电子工业出版社
页数：11页
标准价格：15.0
出版日期：1993-04-01
相关单位信息
起草人：金贵永、郭美琪、陈熙春
起草单位：中国电子技术标准化研究所和青岛电器件厂
归口单位：中国电子技术标准化研究所
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
发布部门：中国电子工业总公司
标准简介
本规范规定了3CT682、683、685~692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管（以下简称器件）的详细要求，该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级(GP，GT和GCT级)。
标准图片预览
标准内容
1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3CT682、683、685～692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification for reverse-blockingthyristor fortypes3CT682683,685~692and3CT5206
1.1主题内容
SJ20182—92
本规范规定了3CT682、683、685～692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管（以下简称器件）的详细要求，该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级(GP，GT和GCT级）。
1.2外形尺寸
外形尺寸应符合GB7581《半导体分立器件外形尺寸》的C2-01B型或C2-01B(L）型，见图1。
中国电子工业总公司1992-11-19发布1993-05-01实施
注：C2-01B(L)型为长螺栓结构
SJ20182-—92
图1外形图
最小值
C2-01B
公称值
最大值
1.3最大额定值
3CT682
3CT683
3CT685
3CT686
3CT687
3CT688
3CT689
3CT690
3CT691
3CT692
3CT5206
3CT682
3CT683
3CT685
3CT686
3CT687
3CT688
3CT689
3CT690
3CT691
3CT692
3CT5206
di/dt（重复）
(A/μs)
ITsM2)
SJ2018292
-55～+125
55~+150
注：1）最高壳温Tc=65℃和正弦半波导通角为180°下的通态平均电流。2）为不重复的浪涌电流额定值。3）适用于零或负的控制极电压的值。VoRms
低气压
螺栓转矩
SJ20182—92
1.4主要电特性（除非另有规定，T^=25℃）参数
极限值
最小值
最大值
引用文件
GB7581—87
GJB33-85
GJB128—86
SJ/Z9014.3—87
3要求
3.1详细要求
半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
半导体分立器件第6部分
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
闸流晶体管
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范图1的规定。3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
(V/μs)
筛选应按GJB33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1进行，超过规定极限值的器件应予剔除。
（见GJB33表2）
2.高温寿命
3.热冲击
4.恒定加速度
7.中间参数和(△)参数测试
8.电老化
(交流阻断)
9.最后测试
4.4质量一致性检验
SJ20182-92
测试或试验
低温：一55℃，其余按试验条件F，循环10次49000m/ss
IRRMI、IDRMI.VGH和VTM
96h.Rck00
Tc=125CVRM=VRRMVDM=VDRM
本规范表1的A2分组；
AIRR=初始值的100%或0.4mA，取较大者；AIoxm初始值的100%或0.4mA，取较大者，质量一致性检验应按GJB33的规定，由A组、B组和C组检验或试验组成。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.4.4检验和试验方法
检验和试验方法应按GJB128和本规范表1、表2、表3的规定。表1A组检验
检验或试验
A1分组
外观及机械检验
A2分组
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极触发电压和电流
GJB128
SJ/Z9014.3
VRM-VuRM
f=50Hz
VoMVkM
f=50Hz
V6.0V.R500
R=200(max)
最小值
最大值
检验或试验
通态峰值电压
维持电流
控制极反向电流
A3分组
高温工作：
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极不触发电压
低温工作
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极触发电压和
A6分组
浪通电流
最后测试：
A7分组
断态电压临界上升率
SJ2018292
续表1
SJ/Z9014.3
ITM=50A
tp10ms
占空因数≤2%
附录A
Vo=-24V;
Ve=-5V
Tc=125C
VRM=VRRM)
f-50Hz
VDM-VoRM
f=50Hz
VD-VDRM:
R2=200
Te=-55℃
VRMVRRM
f-50Hz
VoM-VokM
f=50Hz
R，=20n(max)
/TSM-150A
每分钟1次，共10次
Te=125c
VuM=VxxM
浪涌持续时间=7ms（min）
按表4、步骤1、3、5和6
Te=125℃
do/dz=25V/μs
试验持续时间一15s
3CT682
VoM=50V
3CT683
VoM=-100V
3CT685
极限值
最小值
最大值
检验或试验
电路换向关断时间
控制极控制开通时间
SJ20182—92
续表1Www.vV99.net
SJ/Z9014.3
VoM=200V
3CT686
VpM=250V
3CT687
VDM=300V
3CT688
Vom=400V
3CT689
VEM-500V
3CT690
VoM=600V
3CT691
VDM=700V
3CT692
Vpar800V
3CT5206
VpM=1000V
T=120C,ITm=10A
≥50gs
di/dr=8A/μs(max)
VRMVRRM:
重复率≤60pps
do/dz=20V/μs
VDM=-VDRM)
控制极偏置条件：
控制极电源电压=0V
控制极电源电阻=1000
3CT682~688
3CT689~690
3CT691~692
3Cr5206
ITm10A
IGM=-150mA
控制极电流脉冲：
上升时间<0.5us
持续时间≤20s
重复率≤60pps
di/di≤5A/μs
3CT682,Vp=50V
3CT683~692.V=100V
3CT5206V,=100V
极限值
最小值
最大值
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击（温度循环）
密封：
a.细检漏
b.粗检漏
最后测试：
B3分组
交流阻断
最后测试：
B4分组
开相内部直观设计
B5分组
B6分组
高温寿命
（非工作状态）
最后测试：
SJ20182—92
表2B组检验
GJB128
控制极引出端焊片部分
停留时间=10士1s
低温：-55℃；其余按试验
条件F，循环10次
按表4,步骤1、3、5和6
试验条件A
Te=125C，t=170±24h
VgmVgxM
VDM=VDRM;RCKC
按表4.步骤2、4、5和7
SJ/Z9014.3/16A;T,125C(max)
IT=保证完全导通的最低值
TA=150℃C;t=340h
按表4，步骤2.4、5和7
最小值最大值
5×10-Pacm*/s
每批1个
器件/0
Rohni-
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击（玻璃应力）
引出端强度
弯曲应力
密封：
a.细检漏
b.粗轮漏
综合温度/湿度周期
外观检验
最后测试：
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后测试：
C4分组
盐气(侵蚀)(适用时)
C5分组
低气压
C6分组
间数工作寿命
最后测试：
按图1
SJ20182-92
表3C组检验
GJB128
试验条件B
试验条件F，方法B
阴极端：W=230gt=15±3s
控制极端：W=230gt=15±3s
试验条件D.；
转矩-2.5Nmt=15士3s
按表4,步骤1、3、5和6
4900m/s*,1.0ms
X、Y，和Y.方向，每个方向各5次49000m/g*，XlY和Y，方向
按表4，步骤1.3、5和6
VDM-VDRM.VRM-VRxM-1-60s
气压：2000Pa（200V~600V）
4000Pa(700V~1000V)
IT(Av)m4A
te50min
tui=10min
Tc=100±5℃
T不控制
按表4，步骤2、4、5和7
LTPD符号
入=10
极限值
最小值
最大值
5×10-Pacm/s
反向重复峰值电流
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
断态重复峰值电流
SJ20182-92
表4A组、B组和C组检验的电测试SJ/Z9014.3
控制极触发电压和电流
通态峰值电压
通态峰值电压
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
VRM=VxRM
f=50Hz
Vxu=Vm
f=50Hz
VouVoRa
f=50Hz
VoMVDkM
f=50Hz
R,=500
R,=20n(max)
ITM=50A
tp10ms
占空因数≤2%
ITM=50A
t≤10ms
占空因数≤2%
GIB33中规定的说明事项适用于本规范。10
极限值
最小值
最大值
A1目的
SJ20182-92
附录A
控制极反向电流测试方法
（补充件）
本测试的目的是为了在规定的控制极反向电压下测量器件的控制极直流反向电流。测试电路
选择R以限制超过控制极反向击穿电压时的电流。D.u.T
注：电流表两端之间应现短路，否则应对电压表读数作电流表压降方面的修正。图A1
控制极反向电流测试电路
A3步骤
调节规定的控制极反向电压并读出控制极反向电流。A4规定条件
控制极直流反向电压应在详细规范中加以规定。附加说明：
本标准由中国电子工业总公司科技质量局提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准由中国电子技术标准化研究所、青岛电器元件厂负责起草。本标准主要起草人：金贵永、郭美琪、陈熙春。计划项目代号：89080。
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中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3CT682、683、685～692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification for reverse-blockingthyristor fortypes3CT682683,685~692and3CT5206
1.1主题内容
SJ20182—92
本规范规定了3CT682、683、685～692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管（以下简称器件）的详细要求，该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级(GP，GT和GCT级）。
1.2外形尺寸
外形尺寸应符合GB7581《半导体分立器件外形尺寸》的C2-01B型或C2-01B(L）型，见图1。
中国电子工业总公司1992-11-19发布1993-05-01实施
注：C2-01B(L)型为长螺栓结构
SJ20182-—92
图1外形图
最小值
C2-01B
公称值
最大值
3CT682
3CT683
3CT685
3CT686
3CT687
3CT688
3CT689
3CT690
3CT691
3CT692
3CT5206
3CT682
3CT683
3CT685
3CT686
3CT687
3CT688
3CT689
3CT690
3CT691
3CT692
3CT5206
di/dt（重复）
(A/μs)
ITsM2)
SJ2018292
-55～+125
55~+150
注：1）最高壳温Tc=65℃和正弦半波导通角为180°下的通态平均电流。2）为不重复的浪涌电流额定值。3）适用于零或负的控制极电压的值。VoRms
低气压
螺栓转矩
SJ20182—92
1.4主要电特性（除非另有规定，T^=25℃）参数
极限值
最小值
最大值
引用文件
GB7581—87
GJB33-85
GJB128—86
SJ/Z9014.3—87
3要求
3.1详细要求
半导体分立器件外形尺寸
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
半导体分立器件第6部分
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
闸流晶体管
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范图1的规定。3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
(V/μs)
筛选应按GJB33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1进行，超过规定极限值的器件应予剔除。
（见GJB33表2）
2.高温寿命
3.热冲击
4.恒定加速度
7.中间参数和(△)参数测试
8.电老化
(交流阻断)
9.最后测试
4.4质量一致性检验
SJ20182-92
测试或试验
低温：一55℃，其余按试验条件F，循环10次49000m/ss
IRRMI、IDRMI.VGH和VTM
96h.Rck00
Tc=125CVRM=VRRMVDM=VDRM
本规范表1的A2分组；
AIRR=初始值的100%或0.4mA，取较大者；AIoxm初始值的100%或0.4mA，取较大者，质量一致性检验应按GJB33的规定，由A组、B组和C组检验或试验组成。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.4.4检验和试验方法
检验和试验方法应按GJB128和本规范表1、表2、表3的规定。表1A组检验
检验或试验
A1分组
外观及机械检验
A2分组
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极触发电压和电流
GJB128
SJ/Z9014.3
VRM-VuRM
f=50Hz
VoMVkM
f=50Hz
V6.0V.R500
R=200(max)
最小值
最大值
检验或试验
通态峰值电压
维持电流
控制极反向电流
A3分组
高温工作：
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极不触发电压
低温工作
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
控制极触发电压和
A6分组
浪通电流
最后测试：
A7分组
断态电压临界上升率
SJ2018292
续表1
SJ/Z9014.3
ITM=50A
tp10ms
占空因数≤2%
附录A
Vo=-24V;
Ve=-5V
Tc=125C
VRM=VRRM)
f-50Hz
VDM-VoRM
f=50Hz
VD-VDRM:
R2=200
Te=-55℃
VRMVRRM
f-50Hz
VoM-VokM
f=50Hz
R，=20n(max)
/TSM-150A
每分钟1次，共10次
Te=125c
VuM=VxxM
浪涌持续时间=7ms（min）
按表4、步骤1、3、5和6
Te=125℃
do/dz=25V/μs
试验持续时间一15s
3CT682
VoM=50V
3CT683
VoM=-100V
3CT685
极限值
最小值
最大值
检验或试验
电路换向关断时间
控制极控制开通时间
SJ20182—92
续表1Www.vV99.net
SJ/Z9014.3
VoM=200V
3CT686
VpM=250V
3CT687
VDM=300V
3CT688
Vom=400V
3CT689
VEM-500V
3CT690
VoM=600V
3CT691
VDM=700V
3CT692
Vpar800V
3CT5206
VpM=1000V
T=120C,ITm=10A
≥50gs
di/dr=8A/μs(max)
VRMVRRM:
重复率≤60pps
do/dz=20V/μs
VDM=-VDRM)
控制极偏置条件：
控制极电源电压=0V
控制极电源电阻=1000
3CT682~688
3CT689~690
3CT691~692
3Cr5206
ITm10A
IGM=-150mA
控制极电流脉冲：
上升时间<0.5us
持续时间≤20s
重复率≤60pps
di/di≤5A/μs
3CT682,Vp=50V
3CT683~692.V=100V
3CT5206V,=100V
极限值
最小值
最大值
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击（温度循环）
密封：
a.细检漏
b.粗检漏
最后测试：
B3分组
交流阻断
最后测试：
B4分组
开相内部直观设计
B5分组
B6分组
高温寿命
（非工作状态）
最后测试：
SJ20182—92
表2B组检验
GJB128
控制极引出端焊片部分
停留时间=10士1s
低温：-55℃；其余按试验
条件F，循环10次
按表4,步骤1、3、5和6
试验条件A
Te=125C，t=170±24h
VgmVgxM
VDM=VDRM;RCKC
按表4.步骤2、4、5和7
SJ/Z9014.3/16A;T,125C(max)
IT=保证完全导通的最低值
TA=150℃C;t=340h
按表4，步骤2.4、5和7
最小值最大值
5×10-Pacm*/s
每批1个
器件/0
Rohni-
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击（玻璃应力）
引出端强度
弯曲应力
密封：
a.细检漏
b.粗轮漏
综合温度/湿度周期
外观检验
最后测试：
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后测试：
C4分组
盐气(侵蚀)(适用时)
C5分组
低气压
C6分组
间数工作寿命
最后测试：
按图1
SJ20182-92
表3C组检验
GJB128
试验条件B
试验条件F，方法B
阴极端：W=230gt=15±3s
控制极端：W=230gt=15±3s
试验条件D.；
转矩-2.5Nmt=15士3s
按表4,步骤1、3、5和6
4900m/s*,1.0ms
X、Y，和Y.方向，每个方向各5次49000m/g*，XlY和Y，方向
按表4，步骤1.3、5和6
VDM-VDRM.VRM-VRxM-1-60s
气压：2000Pa（200V~600V）
4000Pa(700V~1000V)
IT(Av)m4A
te50min
tui=10min
Tc=100±5℃
T不控制
按表4，步骤2、4、5和7
LTPD符号
入=10
极限值
最小值
最大值
5×10-Pacm/s
反向重复峰值电流
反向重复峰值电流
断态重复峰值电流
断态重复峰值电流
SJ20182-92
表4A组、B组和C组检验的电测试SJ/Z9014.3
控制极触发电压和电流
通态峰值电压
通态峰值电压
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
VRM=VxRM
f=50Hz
Vxu=Vm
f=50Hz
VouVoRa
f=50Hz
VoMVDkM
f=50Hz
R,=500
R,=20n(max)
ITM=50A
tp10ms
占空因数≤2%
ITM=50A
t≤10ms
占空因数≤2%
GIB33中规定的说明事项适用于本规范。10
极限值
最小值
最大值
A1目的
SJ20182-92
附录A
控制极反向电流测试方法
（补充件）
本测试的目的是为了在规定的控制极反向电压下测量器件的控制极直流反向电流。测试电路
选择R以限制超过控制极反向击穿电压时的电流。D.u.T
注：电流表两端之间应现短路，否则应对电压表读数作电流表压降方面的修正。图A1
控制极反向电流测试电路
A3步骤
调节规定的控制极反向电压并读出控制极反向电流。A4规定条件
控制极直流反向电压应在详细规范中加以规定。附加说明：
本标准由中国电子工业总公司科技质量局提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准由中国电子技术标准化研究所、青岛电器元件厂负责起草。本标准主要起草人：金贵永、郭美琪、陈熙春。计划项目代号：89080。
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